X-ray diffractogram of the silica n

X-ray diffractogram of the silica nanoparticles is displayed in Fig. 3. It shows a broad and high intensity
peak at 2θ = 22° which indicate the amorphous nature of the silica [18].

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

เอ็กซ์เรย์ diffractogram นส่วนที่เก็บกักอยู่ใน Fig. 3 แสดงความกว้าง และสูงช่วงที่ 2θ = 22° ซึ่งบ่งชี้ธรรมชาติของซิลิกา [18] ไป

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

diffractogram เอ็กซ์เรย์ของอนุภาคนาโนซิลิกาจะปรากฏในรูป 3. มันแสดงให้เห็นความรุนแรงในวงกว้างและสูง
สูงสุดที่2θ = 22 °ที่แสดงลักษณะสัณฐานของซิลิกา [18]

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ทางรังสีของอนุภาคนาโนซิลิกาที่แสดงในรูปที่ 3 มันแสดงให้เห็นในวงกว้างและความเข้มสูงสุด
สูง 2 θ = 22 °ซึ่งบอกลักษณะสัณฐานของซิลิกา [ 18 ]