ABSTRACTIn this paper, a novel full

ABSTRACT
In this paper, a novel full range window comparator
with self-testability feature is presented. The use of a
mixed-signal full range window comparator for
Built-In-Self-Test (BIST) of analogue cores in
System-On-Chip (SOC) was described in [1-2].
Therefore we leverage on the design effort already
spent in providing an effective means of testing SOCs,
by making the comparator self-testable hence the
potential problem of a faulty comparator circuit
during test mode operation is greatly reduced.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

บทคัดย่อในเอกสารนี้ มีนวนิยายนานหน้าต่าง comparatorมี self-testability คุณลักษณะการนำเสนอ การใช้การผสมสัญญาณครบวงจร comparator หน้าต่างสำหรับBuilt-In-ตนเองทดสอบ (BIST) แกนอนาล็อกในระบบในชิพ (SOC) ที่อธิบายไว้ใน [1 - 2]ดังนั้น เราใช้ในความพยายามออกแบบแล้วใช้เวลาในการให้บริการทดสอบ SOCs วิธีที่มีประสิทธิภาพโดยที่ comparator testable ตนเองดังนั้นการปัญหาอาจเกิดขึ้นของวงจร comparator ชำรุดในระหว่างการทดสอบ โหมดการดำเนินงานเป็นอย่างมากลดลง

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

บทคัดย่อในงานวิจัยนี้อย่างเต็มรูปแบบนวนิยายเปรียบเทียบหน้าต่างที่มีคุณสมบัติในตัวเองที่จะนำเสนอการตรวจสอบได้ การใช้สัญญาณผสมเปรียบเทียบหน้าต่างอย่างเต็มรูปแบบสำหรับในตัวเองทดสอบ(BIST) ของแกนอนาล็อกในระบบบนชิป(SOC) ได้อธิบายไว้ใน [1-2]. ดังนั้นเราจึงใช้ประโยชน์จากความพยายามในการออกแบบ แล้วใช้เวลาในการให้บริการที่มีประสิทธิภาพของการทดสอบประสิทธิภาพSoCs, โดยการเปรียบเทียบตัวเองทดสอบด้วยเหตุที่ปัญหาที่อาจเกิดของวงจรเปรียบเทียบความผิดพลาดในระหว่างการดำเนินโหมดการทดสอบจะลดลงมาก

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

นามธรรม
ในกระดาษนี้ , นวนิยายหน้าต่างเต็มช่วงเปรียบเทียบ
ด้วยคุณสมบัติ testability ตนเองจะนำเสนอ การใช้สัญญาณ
ผสมเต็มรูปแบบหน้าต่างเปรียบเทียบสำหรับ
สร้างทดสอบตนเองทางแกนอนาล็อกใน
ระบบบนชิป ( SoC ) ได้อธิบายไว้ใน [ 1-2 ] .
ดังนั้นเราจึงใช้ประโยชน์จากความพยายามในการออกแบบที่ใช้ในการให้บริการแล้ว
หมายถึงการมีประสิทธิภาพของการทดสอบการทำงาน
,โดยการเปรียบเทียบทดสอบได้ด้วยตนเอง ดังนั้นศักยภาพของ

ปัญหาวงจรเปรียบเทียบความผิดพลาดในระหว่างการดำเนินงานโหมดการทดสอบคือการลดลงอย่างมาก