The in-depth compositionalprofiles

The in-depth compositional
profiles of the dopants and glass constituents were determined
by SIMS using an IMS-4f Cameca spectrometer equipped with a normal
incidence electron gun to compensate the surface charge build-up i.e.
to insulate the samples during profiling

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

การชม compositionalโปรไฟล์ของ dopants และ constituents แก้วถูกกำหนดโดยซิมส์ใช้สเปกโตรมิเตอร์ Cameca IMS 4f เพียบพร้อมไป ด้วยความปกติปืนอิเล็กตรอนเกิดการชดเชยค่าผิวเกิดเช่นช่วยตัวอย่างในระหว่างการสร้างโพรไฟล์

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ในเชิงลึก compositional
โปรไฟล์ของสารเจือปนและองค์ประกอบแก้วได้รับการพิจารณา
โดย SIMS ใช้สเปกโตรมิเตอร์ IMS-4f Cameca พร้อมกับปกติ
ปืนอิเล็กตรอนอุบัติการณ์ที่จะชดเชยค่าใช้จ่ายผิวสร้างขึ้นเช่น
การป้องกันตัวอย่างในช่วงโปรไฟล์

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

เจาะลึกส่วนประกอบ
โปรไฟล์ขององค์ประกอบคุณภาพและแก้วถูก
โดยซิมส์ใช้ ims-4f cameca Spectrometer พร้อมปกติ
ปืนอิเล็กตรอน เพื่อชดเชยการสะสมประจุพื้นผิวเช่น
insulate ตัวอย่างในโปรไฟล์