The tests described below for the p

The tests described below for the pseudo-recurrent memory model will be of three types.
The first experiment shows that, without some form of interleaving of old information (or
approximate old information) during learning of new information, regardless of how slowly the
new information is learned, severe forgetting of the old information can occur

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

การทดสอบที่อธิบายไว้ด้านล่างในรุ่นหน่วยความจำ pseudo-เกิดซ้ำจะมีสามชนิดทดลองครั้งแรกแสดงที่ รูปแบบของการแทรกสลับข้อมูลของข้อมูล (หรือประมาณข้อมูลเก่า) ในระหว่างการเรียนรู้ข้อมูลใหม่ ไม่ว่าช้าข้อมูลใหม่จะได้เรียนรู้ ลืมข้อมูลเก่ารุนแรงสามารถเกิดขึ้นได้

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

การทดสอบที่อธิบายไว้ด้านล่างสำหรับหน่วยความจำแบบหลอกเกิดขึ้นอีกจะเป็นสามประเภท.
การทดลองครั้งแรกที่แสดงให้เห็นว่าไม่มีรูปแบบของการสอดแทรกข้อมูลเก่า
(หรือประมาณข้อมูลเก่า) ในระหว่างการเรียนรู้ข้อมูลใหม่โดยไม่คำนึงถึงวิธีการที่ช้าข้อมูลใหม่ มีการเรียนรู้ลืมที่รุนแรงของข้อมูลเก่าสามารถเกิดขึ้นได้

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การทดสอบที่อธิบายไว้ด้านล่างสำหรับหน่วยความจำแบบเทียมกำเริบจะเป็นสามประเภท .
2 แสดงว่า โดยบางรูปแบบของ interleaving ข้อมูลเก่า ( หรือ
ข้อมูลเก่าประมาณ ) ในการเรียนรู้ข้อมูลใหม่ ไม่ว่าช้า
ข้อมูลใหม่ที่ได้เรียนรู้อย่างลืมข้อมูลเก่าสามารถเกิดขึ้น