Attardo and Rosenberg found that st

Attardo and Rosenberg found that strongly (111) textured E-beam deposited Al films having a large,uniform grain size had superior electromigration resistance relative to smaller
grained, more randomly oriented films

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

Attardo และ Rosenberg พบว่าอย่างยิ่ง (111) ผิว E-คานฝากอัลฟิล์มที่มีขนาดใหญ่ ขนาดเมล็ดสม่ำเสมอมีความต้านทาน electromigration ที่เหนือกว่ากับขนาดเล็กเม็ด เพิ่มเติมสุ่มแนวภาพยนตร์

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

Attardo และโรเซ็นเบิร์กพบว่าอย่างมาก (111) พื้นผิว E-คานภาพยนตร์อัฝากที่มีขนาดใหญ่, ขนาดเม็ดเครื่องแบบมีความต้านทาน electromigration ที่เหนือกว่าเมื่อเทียบกับขนาดเล็ก
เนื้อฟิล์มที่มุ่งเน้นมากขึ้นแบบสุ่ม

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

attardo และโรเซนเบิร์กพบว่ายิ่ง ( 111 ) พื้นผิว e-beam ฝากภาพยนตร์อัลมีขนาดใหญ่ , ขนาดเกรนสม่ำเสมอได้เหนือกว่า electromigration ความต้านทานเทียบกับเม็ดเล็ก
สุ่มเชิงภาพยนตร์มากขึ้น