5.3 Contour line construction methodWe summarize the contour line cons การแปล - 5.3 Contour line construction methodWe summarize the contour line cons ไทย วิธีการพูด

5.3 Contour line construction metho

5.3 Contour line construction method
We summarize the contour line construction procedure as follows:
Consider starting at a feasible point X ∈ F which has an objective function value of z.
171. Draw the EF traversal lines and form the grid.
2. Identify the cell C which contains X.
3. Identify the subcells in cell C.
(a) Identify ETTLs formed due to EF I/O points, for flow between EF I/O points and X in
cell C and determine its subcells. Note that the NF is finite-sized and could cause the
ETTL to move from the point NF case (Result 3).
(b) Identify the interference sets Qs, where the NF interferes with any of the material flows.
Identify the ETTLs formed, due to the NF for material flow between a pair of EF I/O
points or an EF I/O point and X, inside cell C and hence determine the subcells.
4. For cell C and its subcells, assign weights of the unaffected EF I/O point to X material flow
to the appropriate cell corner. For affected material flow between a pair of EF I/O points and
between an EF I/O point and X, assign weights to the corners as described in Section 5.2.2.
5. For cell C and its subcells, the slope of the contour line is determined as follows:
0/5000
จาก: -
เป็น: -
ผลลัพธ์ (ไทย) 1: [สำเนา]
คัดลอก!
5.3 Contour line construction methodWe summarize the contour line construction procedure as follows:Consider starting at a feasible point X ∈ F which has an objective function value of z.171. Draw the EF traversal lines and form the grid.2. Identify the cell C which contains X.3. Identify the subcells in cell C.(a) Identify ETTLs formed due to EF I/O points, for flow between EF I/O points and X incell C and determine its subcells. Note that the NF is finite-sized and could cause theETTL to move from the point NF case (Result 3).(b) Identify the interference sets Qs, where the NF interferes with any of the material flows.Identify the ETTLs formed, due to the NF for material flow between a pair of EF I/Opoints or an EF I/O point and X, inside cell C and hence determine the subcells.4. For cell C and its subcells, assign weights of the unaffected EF I/O point to X material flowto the appropriate cell corner. For affected material flow between a pair of EF I/O points andbetween an EF I/O point and X, assign weights to the corners as described in Section 5.2.2.5. For cell C and its subcells, the slope of the contour line is determined as follows:
การแปล กรุณารอสักครู่..
ผลลัพธ์ (ไทย) 2:[สำเนา]
คัดลอก!
5.3 Contour วิธีการก่อสร้างสาย
เราสรุปขั้นตอนการก่อสร้างเส้นเค้าโครงดังนี้
พิจารณาเริ่มต้นที่จุดไปได้ X ∈ F ซึ่งมีค่าฟังก์ชันวัตถุประสงค์ของซี.
171 วาดเส้น EF สำรวจเส้นทางและรูปแบบตาราง.
2 ระบุ C เซลล์ซึ่งมีเอ็กซ์
3 ระบุ subcells ในเซลล์ C.
(ก) ระบุ ETTLs เกิดขึ้นเนื่องจากการ EF I / O จุดสำหรับการไหลระหว่าง EF จุด I / O และ X ใน
C เซลล์และการตรวจสอบของ subcells โปรดทราบว่า NF มี จำกัด ขนาดและอาจก่อให้เกิด
ETTL ที่จะย้ายจากจุดกรณี NF (ผล 3).
(ข) ระบุการแทรกแซงชุด Qs ที่ NF รบกวนใด ๆ ของวัสดุที่ไหล.
ระบุ ETTLs ขึ้น เนื่องจาก NF สำหรับการไหลของวัสดุระหว่างคู่ของ EF I / O
จุดหรือจุด EF I / O และ X, C ภายในเซลล์และด้วยเหตุนี้กำหนด subcells.
4 สำหรับมือถือซีและ subcells ที่กำหนดน้ำหนักของได้รับผลกระทบจาก EF I / O ชี้ไปที่การไหลของวัสดุ X
มุมเซลล์ที่เหมาะสม สำหรับการไหลของวัสดุได้รับผลกระทบระหว่างคู่ของ EF จุด I / O และ
ระหว่างจุด EF I / O และ X กำหนดน้ำหนักไปยังมุมที่กล่าวไว้ในมาตรา 5.2.2.
5 สำหรับมือถือซีและ subcells ของความชันของเส้นรูปร่างจะถูกกำหนดดังต่อไปนี้:
การแปล กรุณารอสักครู่..
ผลลัพธ์ (ไทย) 3:[สำเนา]
คัดลอก!
5.3 วิธีการก่อสร้าง
เราสรุปเส้นเส้นก่อสร้างขั้นตอนดังนี้
พิจารณาเริ่มต้นที่เป็นไปได้จุด x ∈ F ซึ่งมีวัตถุประสงค์การทำงานของค่า Z .
171 . วาดเส้นและ EF หรือรูปแบบตาราง .
2 ระบุเซลล์ C ซึ่งมี X
3 ระบุ subcells ในเซลล์ C .
( ) ระบุ ettls เกิดขึ้นเนื่องจาก EF I / O จุดสำหรับการไหลระหว่าง EF I / O จุดและ X ใน
เซลล์ C และตรวจสอบ subcells . โปรดทราบว่า NF มีจำกัดขนาด และอาจทำให้
ettl ย้ายจากจุด NF กรณี ( ผล 3 )
( b ) ระบุชุดรบกวน QS ซึ่ง NF รบกวนใด ๆของวัสดุไหล .
ระบุ ettls เกิดขึ้นเนื่องจากการ NF สำหรับวัสดุการไหลระหว่างคู่ของ EF I / O
จุดหรือ EF I / O จุดและ Xภายในเซลล์ C และจึงกำหนด subcells .
4 สำหรับเซลล์ C และ subcells กำหนดน้ำหนักของผลกระทบ EF I / O จุด X ไหลวัสดุ
ที่มุมของเซลล์ที่เหมาะสม สำหรับผลกระทบของวัสดุไหลระหว่างคู่ตัวของ I / O และจุด
ระหว่าง EF I / O จุดและ X กำหนดน้ำหนักไปยังมุมที่อธิบายไว้ในมาตรา 5.2.2 .
5 เซลล์และ subcells C ,ความชันของเส้นกำหนด ดังนี้
การแปล กรุณารอสักครู่..
 
ภาษาอื่น ๆ
การสนับสนุนเครื่องมือแปลภาษา: กรีก, กันนาดา, กาลิเชียน, คลิงออน, คอร์สิกา, คาซัค, คาตาลัน, คินยารวันดา, คีร์กิซ, คุชราต, จอร์เจีย, จีน, จีนดั้งเดิม, ชวา, ชิเชวา, ซามัว, ซีบัวโน, ซุนดา, ซูลู, ญี่ปุ่น, ดัตช์, ตรวจหาภาษา, ตุรกี, ทมิฬ, ทาจิก, ทาทาร์, นอร์เวย์, บอสเนีย, บัลแกเรีย, บาสก์, ปัญจาป, ฝรั่งเศส, พาชตู, ฟริเชียน, ฟินแลนด์, ฟิลิปปินส์, ภาษาอินโดนีเซี, มองโกเลีย, มัลทีส, มาซีโดเนีย, มาราฐี, มาลากาซี, มาลายาลัม, มาเลย์, ม้ง, ยิดดิช, ยูเครน, รัสเซีย, ละติน, ลักเซมเบิร์ก, ลัตเวีย, ลาว, ลิทัวเนีย, สวาฮิลี, สวีเดน, สิงหล, สินธี, สเปน, สโลวัก, สโลวีเนีย, อังกฤษ, อัมฮาริก, อาร์เซอร์ไบจัน, อาร์เมเนีย, อาหรับ, อิกโบ, อิตาลี, อุยกูร์, อุสเบกิสถาน, อูรดู, ฮังการี, ฮัวซา, ฮาวาย, ฮินดี, ฮีบรู, เกลิกสกอต, เกาหลี, เขมร, เคิร์ด, เช็ก, เซอร์เบียน, เซโซโท, เดนมาร์ก, เตลูกู, เติร์กเมน, เนปาล, เบงกอล, เบลารุส, เปอร์เซีย, เมารี, เมียนมา (พม่า), เยอรมัน, เวลส์, เวียดนาม, เอสเปอแรนโต, เอสโทเนีย, เฮติครีโอล, แอฟริกา, แอลเบเนีย, โคซา, โครเอเชีย, โชนา, โซมาลี, โปรตุเกส, โปแลนด์, โยรูบา, โรมาเนีย, โอเดีย (โอริยา), ไทย, ไอซ์แลนด์, ไอร์แลนด์, การแปลภาษา.

Copyright ©2025 I Love Translation. All reserved.

E-mail: