in which an electron beam is two-di

in which an electron beam is two-dimensionally used to scan the surface of specimen to collect characteristic X-rays,permitting a record of element mapping.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ในการที่ ลำแสงอิเล็กตรอน two-dimensionally ใช้การสแกนพื้นผิวของสิ่งส่งตรวจเพื่อรวบรวมลักษณะรังสี X อนุญาตให้เรกคอร์ดของการแมปองค์ประกอบ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ในการที่ลำแสงอิเล็กตรอนจะใช้ในสองมิติในการสแกนพื้นผิวของชิ้นงานที่จะเก็บรังสีเอกซ์ลักษณะอนุญาตให้บันทึกของการทำแผนที่องค์ประกอบ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ซึ่งลำแสงอิเล็กตรอนสองมิติที่ใช้ในการสแกนพื้นผิวของชิ้นงานเพื่อเก็บลักษณะและอนุญาตให้บันทึกของการทำแผนที่องค์ประกอบ