The morphology of the particlesdepo

The morphology of the particlesdeposited on the alumina substrate was determined by ScanningElectron Microscopy (SEM) using a high resolution FEG JEOL7600Fwith an accelerating voltage of 5 kV.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

สัณฐานวิทยาของ particlesdeposited บนพื้นผิวอลูมินาถูกกำหนดโดย ScanningElectron กล้องจุลทรรศน์ (SEM) โดยใช้ความละเอียดสูง FEG JEOL7600Fwith แรงดันการเร่ง 5 kV

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ลักษณะทางสัณฐานวิทยาของ particlesdeposited บนพื้นผิวอลูมิเนียมที่ถูกกำหนดโดย ScanningElectron Microscopy (SEM) โดยใช้ความละเอียดสูง FEG JEOL7600Fwith แรงดันเร่ง 5 กิโลโวลต์

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

สัณฐานวิทยาของ particlesdeposited บนพื้นผิวอะลูมินาถูกกำหนดด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน ( SEM ) โดยใช้ FEG ความละเอียดสูง jeol7600fwith เร่งแรงดัน 5 KV .