The AFM images of the membranes wer

The AFM images of the membranes were acquired under nitrogen
atmosphere in tapping mode using a Multimode Nanoscope IIIa
(Veeco), at a resonant frequency of 300 kHz. The parameters were
carefully set to minimize the tip pressure on the membrane fibers.
A commercial Si tip (MPP-11100-Veeco Probes) was used, with a
nominal radius

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ภาพ AFM ของสารได้มาภายใต้ไนโตรเจนบรรยากาศในการเคาะโหมดใช้แบบ Multimode Nanoscope IIIa(Veeco), ความถี่คง 300 kHz พารามิเตอร์ได้ตั้งอย่างระมัดระวังเพื่อลดความดันปลายเส้นใยเยื่อใช้เคล็ดลับศรีพาณิชย์ (MPP 11100 Veeco Probes) มีการระบุรัศมี < 10 nm และว่ายอมเป็นสปริงคงที่ของ 40 N m−1เข้ามากได้ก่อตั้งขึ้นกว่าชิปที่ซิลิคอนมีแบนพื้นผิว โดยใช้โซลูชั่นที่แตกออกของโพลิเมอร์ที่แตกต่างกันในสั่งลดแมพของพวกเขา โดยการโต้ตอบด้วย

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ภาพ AFM ของเยื่อที่ได้มาภายใต้ไนโตรเจน
บรรยากาศในโหมดแตะใช้มัลติ Nanoscope IIIa
(วีโก้) ที่สะท้อนความถี่ 300 เฮิร์ทซ์ พารามิเตอร์ถูก
กำหนดอย่างระมัดระวังเพื่อลดความดันปลายบนเส้นใยเมมเบรน.
ปลายศรีเชิงพาณิชย์ (เอ็มพีพี-11100-วีโก้พร็อบ) ถูกนำมาใช้กับ
รัศมีระบุ <10 นาโนเมตรและฤดูใบไม้ผลิที่กำหนดคงที่ของ 40 n M-1.
มาก เยื่อบาง ๆ กำลังก่อตัวขึ้นกว่าชิปซิลิกอนที่มีแบน
พื้นผิวโดยการแก้ปัญหาการปรับลดของโพลิเมอร์ที่แตกต่างกันใน
การสั่งซื้อเพื่อลดความผิดปกติของพวกเขาโดยการมีปฏิสัมพันธ์กับปลาย

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

AFM ภาพของเยื่อได้มาภายใต้บรรยากาศไนโตรเจน
ในโหมดเคาะใช้มัลตินาโนสโคป IIIa
( VEECO ) ที่ความถี่เรโซแนนซ์ของ 300 กิโลเฮิรตซ์ พารามิเตอร์ที่ถูกตั้งค่าเพื่อลด
อย่างระมัดระวังเคล็ดลับความดันบนเยื่อใย ศรีพาณิชย์ : เคล็ดลับ ( mpp-11100-veeco probes ) คือการใช้กับ
ชื่อรัศมี < 10 nm และค่าสปริงค่าคงที่ของ 40 n m − 1 .
บางมากแผ่นขึ้นกว่าชิปซิลิคอนมีพื้นผิวเรียบ
โดยการเจือจาง โซลูชั่นของพอลิเมอร์ที่แตกต่างกันเพื่อลดการเสียรูปของ
โดยการมีปฏิสัมพันธ์กับเคล็ดลับ