X-ray diffractometer (D8 advanced:B

X-ray diffractometer (D8 advanced:
Bruker) was used to determine the phases of
nanosilica. The scanning rate was 10/min in
the 2θ diffraction angle between 10o and 60o.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ด้วย X-ray diffractometer (D8 ขั้นสูง:Bruker) ถูกใช้เพื่อกำหนดขั้นตอนของnanosilica อัตราการสแกนได้ใน 10 นาทีมุมเลี้ยวเบน 2θ ระหว่าง 10o และ 60o

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

X-ray diffractometer (D8 ขั้นสูง:
Bruker) ถูกนำมาใช้ในการกำหนดขั้นตอนของ
nanosilica อัตราการสแกน 10 / นาทีใน
มุม2θเลนส์ระหว่าง 10o และ 60o