X-ray diffraction spectra of the TG

X-ray diffraction spectra of the TGO films formed by thermal
oxidation at different temperatures between 450 and 850 8C are
presented in Fig. 1. It is found that all the TGO films maintain
rutile structure of SnO2. As the oxidation temperature increases,
diffraction peak intensity enhances, originating the improved
crystalline quality obtained. It is noticed that the relative intensity
of (113) diffraction is apparently higher than that of the standard

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

x-เรย์เลนส์สเปกตรัมของภาพยนตร์ tgo ที่เกิดขึ้นจากความร้อน
ออกซิเดชันที่อุณหภูมิที่แตกต่างกันระหว่าง 450 และ 850
8c จะนำเสนอในมะเดื่อ 1 จะพบว่าทุกภาพยนตร์ tgo รักษา
โครงสร้าง rutile ของ SnO2 เป็นอุณหภูมิออกซิเดชันเพิ่มขึ้น
เลนส์ช่วยเพิ่มความเข้มสูงสุด, มามีคุณภาพดีขึ้นผลึก
ได้ จะพบว่าความเข้มสัมพัทธ์
ของ (113) การเลี้ยวเบนก็ดูเหมือนจะสูงกว่ามาตรฐาน

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

แรมสเป็คตราเอกซเรย์การเลี้ยวเบนของ TGO films ที่เกิดขึ้นจากความร้อน
ออกซิเดชันที่อุณหภูมิแตกต่างระหว่าง 450 850 8C คือ
ใน Fig. 1 ก็พบว่า รักษา films TGO ทั้งหมด
โครงสร้าง rutile ของ SnO2 เป็นอุณหภูมิเกิดออกซิเดชันเพิ่ม,
ช่วยเพิ่มความเข้มสูงสุดของการเลี้ยวเบน เกิดการปรับปรุง
ผลึกคุณภาพรับ จะพบที่ความเข้มสัมพัทธ์
ของการเลี้ยวเบน (113) จะเห็นได้ชัดสูงกว่าที่มาตรฐาน

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

พร่าเลือนของ X - ray Spectra ของ films tgo ที่เกิดจากความร้อน
ออกซิไดส์ที่มี อุณหภูมิ ที่แตกต่างกันระหว่าง 450 และ 8508 c
นำเสนอในรูป 1 . พบว่า films tgo ทั้งหมดรักษาไว้ซึ่งโครงสร้าง
rutile ของ sno 2 เป็นการเพิ่ม อุณหภูมิ ออกซิไดส์ที่ความเข้มสูงสุด
พร่าเลือนของช่วยเพิ่มการเริ่มต้น คุณภาพ
ซึ่งจะช่วยปรับปรุงการทำงานให้ดีขึ้นได้รับลูกแก้ว เป็นที่สังเกตเห็นความเข้มของแสงที่เกี่ยวข้อง
ตามมาตรฐานของ( 113 )พร่าเลือนของจะเห็นได้ชัดว่าสูงกว่ามาตรฐานที่