with KBr pellets for solid specimen

with KBr pellets
for solid specimens.
The TGA was implemented with a Seiko TG/DTA 220. The samples were heated at the rate of 10 °C/min under a nitrogen flow from 30 to 200 °C and heated at the rate of 5 °C/min under a nitrogen flow from 200 to 600 °C for the TGA measurement. The morphologies of the silica powders were measured using TEM (JEOL TEM-2010). The average size of emulsion droplets in MCX-MS-E was measured by Microtrac S3000. The in vitro SPF was measured according to the method reported [13] with a SPF-290S computer operated analyzer system (Optometrics Corp, USA).

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

มีขี้ KBr
สำหรับไว้เป็นตัวอย่างที่เป็นของแข็ง
TGA ถูกดำเนินการ ด้วยเป็น Seiko TG/DTA 220 ตัวอย่างถูกความร้อนในอัตรา 10 ° C/นาที ภายใต้กระแสไนโตรเจนจาก 30 ถึง 200 ° C และความร้อนในอัตรา 5 ° C/นาที ภายใต้กระแสไนโตรเจนจาก 200 ถึง 600 ° C สำหรับการประเมิน TGA Morphologies ของผงซิลิกาถูกวัดโดยใช้ยการ (JEOL ยการ-2010) ขนาดเฉลี่ยของอิมัลชันหยดใน MCX-MS-E ถูกวัด โดย Microtrac S3000 SPF ในถูกวัดตามวิธีการรายงาน [13] มี SPF 290S ดำเนินการวิเคราะห์ระบบคอมพิวเตอร์ (Optometrics Corp สหรัฐอเมริกา)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ด้วยเม็ด KBr
ของแข็งตัวอย่าง
TGA การใช้งานกับ Seiko TG / DTA 220. กลุ่มตัวอย่างที่ถูกความร้อนในอัตรา 10 ° C / นาทีภายใต้การไหลของไนโตรเจน 30-200 ° C และความร้อนในอัตรา 5 ° C / นาทีภายใต้การไหลของไนโตรเจน 200-600 ° C สำหรับการวัด TGA รูปร่างลักษณะของผงซิลิกาถูกวัดโดยใช้ TEM (JEOL TEM-2010) ขนาดเฉลี่ยของหยดอิมัลชันใน MCX-MS-E โดยวัดจาก Microtrac S3000 SPF ในหลอดทดลองถูกวัดตามวิธีการที่มีการรายงาน [13] กับคอมพิวเตอร์ SPF-290S ดำเนินการวิเคราะห์ระบบ (Optometrics Corp, USA)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

กับ KBR เม็ด
สำหรับตัวอย่างที่เป็นของแข็ง
TGA ถูกนำมาใช้กับ Seiko TG / dta 220 . จำนวนความร้อนในอัตรา 10 ° C / นาทีภายใต้ไนโตรเจนไหลจาก 30 ถึง 200 องศา C และความร้อนในอัตรา 5 ° C / นาทีภายใต้ไนโตรเจนไหลจาก 200 ถึง 600 ° C ต่อด้วยวัด ลักษณะของผงซิลิกาที่ถูกวัดโดยใช้ TEM ( จอล tem-2010 )ขนาดเฉลี่ยของอิมัลชั่นหยดใน mcx-ms-e วัดจาก microtrac s3000 . ในหลอดทดลอง SPF วัดตามวิธีการรายงาน [ 13 ] กับ spf-290s คอมพิวเตอร์ดำเนินการวิเคราะห์ระบบ ( optometrics คอร์ป , สหรัฐอเมริกา )