As determined by the electron diffr

As determined by the electron diffraction and high-resolution TEM image, the growth direction of ZnO micro/nanorods is [0001] and most of them are free from defects and dislocations.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

กำหนด โดยการเลี้ยวเบนของอิเล็กตรอนและความละเอียดสูงภาพยการ ทิศทางการเติบโตของ ZnO ไมโคร/nanorods เป็น [0001] และส่วนใหญ่จะเป็นอิสระจากข้อบกพร่องและ dislocations

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ตามที่กำหนดโดยการเลี้ยวเบนของอิเล็กตรอนและความละเอียดสูงภาพ TEM ทิศทางการเจริญเติบโตของซิงค์ออกไซด์ขนาดเล็ก / แท่งนาโนเป็น [0001] และส่วนใหญ่ของพวกเขาเป็นอิสระจากข้อบกพร่องและผลกระทบ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ตามที่กำหนดโดยการเลี้ยวเบนอิเล็กตรอน TEM และมีความละเอียดสูงภาพทิศทางการเจริญเติบโตของ ZnO ไมโคร / nanorods [ 001 ] และส่วนใหญ่ของพวกเขาได้ฟรีจากข้อบกพร่องและค่าธรรมเนียม .