Sample cross-sectioning is a destru

Sample cross-sectioning is a destructive experiment. By way of sandpaper (or diamond dust sand paper) milling and continuous polishing, a clear cross-section of the sample can be seen. It is a very quick way for preparing a sample. Combined with equipment like (Optical Microscope or SEM), we can observe structural cross-sections of samples. Besides to observing structure of ICs, observation of other samples such as PCB, PCBA or LED can also be made possible by cross-sectioning.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ตัวอย่าง cross-sectioning จะทดสอบแบบทำลาย ใช้กระดาษทราย (หรือกระดาษฝุ่นทรายเพชร) สีและขัดเงา ระหว่างส่วนใสของตัวอย่างที่สามารถมองเห็นได้ มันเป็นวิธีรวดเร็วมากสำหรับการเตรียมตัวอย่าง รวมกับอุปกรณ์เช่น (กล้องจุลทรรศน์แสงหรือ SEM), เราสามารถสังเกตโครงสร้าง cross-sections ตัวอย่าง นอกจากการสังเกตโครงสร้างของ ICs สังเกตตัวอย่างอื่น ๆ เช่น PCB, PCBA หรือ LED สามารถยังทำได้ โดย cross-sectioning.

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ตัวอย่างข้าม sectioning เป็นทดลองทำลาย โดยวิธีการของกระดาษทราย (หรือกระดาษทรายกากเพชร) สีและขัดเงาอย่างต่อเนื่องชัดเจนข้ามส่วนของตัวอย่างที่สามารถมองเห็นได้ มันเป็นวิธีที่รวดเร็วมากสำหรับการเตรียมสารตัวอย่าง รวมกับอุปกรณ์เช่น (Optical Microscope หรือ SEM) เราสามารถสังเกตข้ามส่วนของโครงสร้างของกลุ่มตัวอย่าง นอกจากนี้จะสังเกตโครงสร้างของวงจรรวมการสังเกตของตัวอย่างอื่น ๆ เช่น PCB, PCBA หรือ LED นอกจากนี้ยังสามารถที่จะทำได้โดยข้าม sectioning

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

วุ่นข้ามตัวอย่างการทดลองทำลาย โดยวิธีการของกระดาษทราย ( หรือเม็ดฝุ่นทรายกระดาษ ) บดและขัดอย่างต่อเนื่อง ภาพตัดขวางที่ชัดเจนของตัวอย่างที่สามารถเห็นได้ มันเป็นวิธีที่รวดเร็วมากเพื่อเตรียมกลุ่มตัวอย่าง รวมกับอุปกรณ์เช่น ( Optical Microscope หรือ SEM ) เราสามารถสังเกตและโครงสร้างของตัวอย่าง นอกจากนี้โครงสร้างการสังเกตของไอซีสังเกตจากตัวอย่างอื่น ๆเช่น PCB PCBA หรือ LED ยังสามารถทำได้ โดยข้าม
วุ่น .