Prior to the analysis, the gold coa

Prior to the analysis, the gold coating layer (30 nm) and possible contamination of the sample surface were sputtered using a high primary beam current (pre-sputtering)

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ก่อนการวิเคราะห์ ชั้นเคลือบทอง (30 nm) และการปนเปื้อนของพื้นผิวตัวอย่างได้ถูก sputtered ใช้กระแสสูงคานหลัก (ก่อนพ่น)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ก่อนที่จะมีการวิเคราะห์ชั้นเคลือบทอง (30 นาโนเมตร) และการปนเปื้อนที่เป็นไปได้ของพื้นผิวของตัวอย่างที่ถูกพ่นโดยใช้ลำแสงหลักสูงในปัจจุบัน (ก่อนสปัตเตอร์)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ก่อนการวิเคราะห์ชั้นเคลือบทอง ( 30 nm ) และการปนเปื้อนที่เป็นไปได้ของพื้นผิวจำนวน sputtered ใช้หลักคานสูงปัจจุบัน ( ก่อนทำงาน )