Braggdiffraction angle and full-wid

Bragg
diffraction angle and full-width at half maximum (FWHM) of the
ZnO(002) diffraction peak, respectively.
According to the obtained results, with increase of seed layer
thickness, the FWHMof the (002) peak decreased and the grain size
increased.
The particle size of ZnO films analyzed using AFM is much
greater than by XRD. This may suggest that AFM data relates to the
particle size, while XRD relates to the grain size [22].

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

Braggมุมการเลี้ยวเบนและความกว้างเต็มที่สูงสุด (FWHM) ครึ่งหนึ่งของการการเลี้ยวเบน ZnO(002) peak ตามลำดับตามผลลัพธ์ได้รับ มีการเพิ่มขึ้นของเมล็ดพันธุ์ชั้นความหนา สูงสุด FWHMof (002) ที่ลดลง และขนาดเมล็ดข้าวเพิ่มขึ้นขนาดอนุภาคของฟิล์ม ZnO ที่วิเคราะห์โดยใช้ AFM ถูกมากขนาดใหญ่กว่า โดย XRD นี้อาจแนะนำว่า AFM ข้อมูลเกี่ยวข้องกับการขนาดอนุภาค ในขณะที่ XRD ที่เกี่ยวข้องกับขนาดเมล็ดข้าว [22]

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

แบร็มุมการเลี้ยวเบนและความกว้างเต็มรูปแบบในครึ่งสูงสุด (FWHM) ของซิงค์ออกไซด์(002) สูงสุดเลนส์ตามลำดับ. ตามผลที่ได้รับกับการเพิ่มขึ้นของชั้นเมล็ดหนาที่ FWHMof นี้ (002) สูงสุดลดลงและขนาดของเมล็ดข้าวที่เพิ่มขึ้น. ขนาดอนุภาคของฟิล์มซิงค์ออกไซด์วิเคราะห์โดยใช้ AFM มากมากกว่าโดยXRD นี้อาจชี้ให้เห็นว่าข้อมูล AFM เกี่ยวข้องกับขนาดอนุภาคในขณะที่XRD เกี่ยวข้องกับขนาดเม็ด [22]

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

เลนส์มุมกว้างและ แบร็ก
เต็มครึ่ง ( FWHM ) มากที่สุดของซิงค์ออกไซด์ ( 002 ) โดยยอด

ตาม ตามลำดับ ผลการทดลอง กับเพิ่มความหนาของชั้น
เมล็ด , fwhmof ( 002 ) ยอดลดลง และขนาดเกรน

เพิ่มขึ้น ขนาดของอนุภาคซิงค์ออกไซด์แบบฟิล์ม AFM มาก
มากกว่ารังสีเอ็กซ์ . นี้อาจให้ข้อมูลที่เกี่ยวข้องกับ AFM
อนุภาคขนาดในขณะที่ XRD เกี่ยวข้องกับขนาดเกรน [ 22 ]