Synchrotron X-ray fluorescence micr

Synchrotron X-ray fluorescence microscopy of Cu, Fe, Mn and Zn in grain of the genotype TSN1. A. Light microscope image of the longitudinal grain section (dorsal side on
top). B. Element concentration maps. C. Element concentration profile from selected area (white box). The data was obtained by using the transect function in GeoPIXE over an area
201 pixel wide. Red dashed lines shows the thickness of the layer of grain material that was abraded by 8e10% polishing.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

Synchrotron เอกซเรย์ fluorescence microscopy ของ Cu, Fe, Mn และ Zn ในเมล็ดของลักษณะทางพันธุกรรม TSN1 อ.แสงกล้องจุลทรรศน์ภาพส่วนเมล็ดข้าวระยะยาว (dorsal ด้านบนสุดยอด) แผนผังองค์ประกอบเกิดสมาธิ โพรไฟล์สมาธิองค์ประกอบค.จากการเลือกตั้ง (กล่องขาว) ข้อมูลที่ได้ โดยใช้ฟังก์ชัน transect ใน GeoPIXE ผ่านพื้นที่พิกเซล 201 กว้าง เส้นสีแดงประแสดงความหนาของชั้นวัสดุเมล็ดข้าวที่ถูก abraded โดย 8e10% ขัด

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ซินโครกล้องจุลทรรศน์ X-ray fluorescence ของ Cu, Fe, Mn และสังกะสีในเมล็ดของจีโนไทป์ TSN1 A. ภาพกล้องจุลทรรศน์แสงของส่วนเมล็ดยาว
(ด้านหลังบนด้านบน) บีธาตุแผนที่ความเข้มข้น ซีธาตุรายละเอียดเข้มข้นจากพื้นที่ที่เลือก (กล่องสีขาว) ข้อมูลที่ได้จากการใช้ฟังก์ชั่นในการตัด GeoPIXE ไปทั่วพื้นที่
201 พิกเซลกว้าง สีแดงเส้นประแสดงให้เห็นถึงความหนาของชั้นของวัสดุเม็ดที่ถูกขัดโดยขัด 8e10% ที่

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

กล้องจุลทรรศน์รังสีเอ็กซ์ซินโครตรอนของ Cu , Fe , Mn และสังกะสีในเมล็ดข้าวของพันธุกรรม tsn1 . 1 . แสงกล้องจุลทรรศน์ของส่วนเมล็ดตามยาว ( ด้านหลังบน
ด้านบน ) แผนที่ของ บี องค์ประกอบ C . องค์ประกอบความเข้มข้นโปรไฟล์จากพื้นที่ที่เลือก ( กล่องขาว ) ข้อมูลที่ได้จากการใช้ฟังก์ชันครอบคลุมทั่วพื้นที่ใน geopixe
201 พิกเซลกว้างเส้นประสีแดงแสดงความหนาของชั้นของวัสดุที่เป็นเม็ดขัดถลอก โดยคิด 8e10 .