Measurement of effective carrier li

Measurement of effective carrier lifetime at the semiconductor–dielectric interface by Photoconductive Decay (PCD) Method

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ประเมินของผู้ขนส่งมีประสิทธิภาพอายุการใช้งานในอินเทอร์เฟซ dielectric – สารกึ่งตัวนำโดยวิธีผุ Photoconductive (PCD)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

การวัดอายุการใช้งานของผู้ให้บริการที่มีประสิทธิภาพที่อินเตอร์เฟซเซมิคอนดักเตอร์อิเล็กทริกโดย photoconductive สลาย (PCD) วิธี

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การวัดประสิทธิภาพของผู้ให้บริการในสารกึ่งตัวนำฉนวนอายุการใช้งานและติดต่อโดย photoconductive ผุ ( PCD ) วิธี