The high degree of similarity in ne

The high degree of similarity in nearly-uniform size and nearly spherical shape of the particles are interesting and may represent the predominance of a single source of influent material. The process itself involves not only the nanoparticles present in the slurry but the removal of a substantial amount of material from the surface of the wafer. The process engineers indicated that, in most cases, the majority of this removed material is silicon, which is removed in sufficient quantities that it may be the majority contributor of non-water mass to the waste stream. This may explain the similarity in observedmaterial present at the slurry lift tank across several sampling events, despite the high likelihood that the specific wafers or slurry employed in the process will have changed between events.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ระดับสูงของความคล้ายกันในเครื่องแบบเกือบขนาดและรูปร่างเกือบทรงกลมของอนุภาคเป็นที่น่าสนใจ และอาจเป็นตัวแทนที่เด่นของวัสดุ influent แหล่งเดียว กระบวนการเกี่ยวข้องไม่เฉพาะเก็บกักอยู่ในสารละลายการลบจำนวนมากวัสดุจากพื้นผิวของแผ่นเวเฟอร์ วิศวกรกระบวนการแสดงว่า ส่วนใหญ่ ส่วนใหญ่ของวัสดุนี้เอาเป็นซิลิคอน ซึ่งจะถูกเอาออกในปริมาณที่เพียงพอว่า มันอาจเป็นผู้สนับสนุนส่วนใหญ่ของมวลน้ำไม่ให้ขยะ นี้อาจอธิบายเฉพาะใน observedmaterial อยู่ในถังสารละลายยกข้ามเหตุการณ์สุ่มหลาย แม้มีโอกาสสูงที่รับเฉพาะหรือสารละลายที่ทำงานในกระบวนการ จะมีการเปลี่ยนแปลงระหว่างเหตุการณ์

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ระดับสูงของความคล้ายคลึงกันในขนาดเกือบเครื่องแบบและรูปร่างทรงกลมเกือบของอนุภาคมีความน่าสนใจและอาจเป็นตัวแทนของความเด่นของแหล่งเดียวของวัสดุที่มีอิทธิพล กระบวนการที่เกี่ยวข้องกับตัวเองไม่เพียง แต่อนุภาคนาโนที่มีอยู่ในสารละลาย แต่การกำจัดของจำนวนมากของวัสดุจากพื้นผิวของแผ่นเวเฟอร์ วิศวกรกระบวนการชี้ให้เห็นว่าในกรณีส่วนใหญ่ส่วนใหญ่ของวัสดุที่ถอดออกนี้เป็นซิลิกอนซึ่งจะถูกลบออกในปริมาณที่เพียงพอว่ามันอาจจะมีส่วนร่วมส่วนใหญ่ของมวลที่ไม่ใช่น้ำน้ำเสีย นี้อาจอธิบายความคล้ายคลึงกันใน observedmaterial อยู่ในที่ถังผสมยกข้ามเหตุการณ์สุ่มตัวอย่างหลายแม้จะมีความเป็นไปได้สูงที่เฉพาะเจาะจงหรือช็อคโกแลตผสมลูกจ้างในกระบวนการที่จะมีการเปลี่ยนแปลงระหว่างเหตุการณ์

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ระดับสูงของความคล้ายคลึงกันในขนาดและรูปร่างของเกือบสม่ำเสมอเกือบทรงกลมขนาดเล็กที่น่าสนใจและอาจแสดงถึงความเด่นของแหล่งเดียวของระบบวัสดุ กระบวนการที่ตัวเองเกี่ยวข้องกับไม่เพียง แต่นาโนอยู่ในน้ำมากมาย แต่การกำจัดปริมาณของวัสดุจากพื้นผิวของเวเฟอร์ วิศวกรกระบวนการ พบว่าในกรณีส่วนใหญ่ ส่วนใหญ่ของนี้เอาวัสดุ คือ ซิลิคอน ซึ่งออกในปริมาณที่เพียงพอ มันอาจเป็นผู้สนับสนุนส่วนใหญ่ไม่ใช่น้ำมวลกระแสของเสีย . นี้อาจอธิบายถึงความเหมือนใน observedmaterial ปัจจุบันเสียยกถังข้ามหลายเหตุการณ์สุ่มแม้จะมีความเป็นไปได้สูงว่า เวเฟอร์ที่เฉพาะเจาะจงหรือสารละลายที่ใช้ในกระบวนการผลิตจะมีการเปลี่ยนแปลงระหว่างเหตุการณ์