The bond interaction between SiO2 a

The bond interaction between SiO2 and ZnO in ZSO-X was also
studied by ATR-FTIR spectra of ZSO-X (Fig. 4). In this context, the
band at 954 cm1 which in bare SiO2 spectrum was attributed to
the ASiAOH [41] stretching vibration (Fig. 4a), in ZSO-4.0 and
ZSO-7.7 spectra gradually shifts to higher frequency (963–
965 cm1) and becomes a shoulder (Fig. 4b and c). Referring to
the spectra of zincosilicate systems [42] and of ZnO/SiO2 composites
[43,44] reported in the literature, this change may be attributed
to the co-presence of ASiOH and of the symmetric SiAOAZn
stretching modes. This suggests the formation of covalent bonds
between a number of surface silanol groups and the growing ZnO
particles in agreement with the NMR results.
The surface composition of ZSO-X was studied by XPS in comparison
with bare SiO2 treated with NaOH under the same conditions
of the ZSO-X synthesis procedure.
The survey spectrum of bare SiO2 powders treated with NaOH
showed the expected silicon and oxygen lines. The energy position
of the Si2p peak is at 103.2 eV, whereas the O1s band is centred at
532.5 eV with a small contribution (ca. 10% of the total) at 530.7 eV
(Fig. S5 in Supporting information). This latter component may be
likely assigned to the presence of SiAOH and/or SiAO groups [45]

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

การโต้ตอบของพันธะระหว่าง SiO2 และ ZnO ใน ZSO X ยังเป็นศึกษา โดยแรมสเป็คตราเอทีอาร์-FTIR ของ ZSO-X (Fig. 4) ในบริบทนี้ การวงที่ซม 954 1 ซึ่งในเอาสเปกตรัม SiO2 ถูกบันทึกASiAOH [41] ยืดสั่นสะเทือน (Fig. 4a), ZSO-4.0 และZSO-7.7 แรมสเป็คตราค่อย ๆ เลื่อนความถี่สูง (963 –965 cm 1) และไหล่ (Fig. 4b และ c) อ้างอิงถึงแรมสเป็คตราระบบ zincosilicate [42] และ ของวัสดุผสม ZnO/SiO2[43,44] รายงานในวรรณคดี การเปลี่ยนแปลงนี้อาจเกิดจากการอยู่ร่วม ของ ASiOH และ SiAOAZn สมมาตรยืดโหมด นี้แสดงให้เห็นการก่อตัวของพันธบัตรโคเวเลนต์ระหว่างจำนวนกลุ่ม silanol ที่ผิวและ ZnO เติบโตอนุภาคยังคงผล NMRองค์ประกอบพื้นผิวของ ZSO X ถูกศึกษา โดย XPS ในเปรียบเทียบมี SiO2 เปลือยรักษา ด้วย NaOH ภายใต้เงื่อนไขเดียวกันของขั้นตอนการสังเคราะห์ ZSO Xสเปกตรัมแบบสำรวจของ SiO2 เปลือยผงรักษา ด้วย NaOHแสดงบรรทัดซิลิคอนและออกซิเจนเป็นต้น ตำแหน่งพลังงานSi2p สูงสุดเป็นที่ 103.2 eV ในขณะที่วงดนตรี O1s เป็นศูนย์กลางที่eV 532.5 กับบริจาคขนาดเล็ก (ca. 10% ของยอดรวมที่ 530.7 eV(ฟิก S5 สนับสนุนข้อมูล) ส่วนหลังนี้อาจจะอาจกำหนดให้สถานะของกลุ่ม SiAOH / เสี้ยว [45]

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

การทำงานร่วมกันความผูกพันระหว่าง SiO2 และซิงค์ออกไซด์ใน ZSO-X
ยังได้รับการศึกษาโดยสเปกตรัมATR-FTIR ของ ZSO-X (รูปที่. 4) ในบริบทนี้วงดนตรีที่ 954 ซม. 1 ซึ่ง SiO2 สเปกตรัมเปลือยถูกประกอบกับ ASiAOH [41] การยืดการสั่นสะเทือน (รูป. 4a) ใน ZSO-4.0 และสเปกตรัมZSO-7.7 ค่อยๆเลื่อนไปความถี่สูง (? 963- 965 ซม. 1) และกลายเป็นไหล่ (รูป. 4b และค) หมายถึงสเปกตรัมของระบบ zincosilicate เมื่อ [42] และคอมโพสิต ZnO / SiO2 [43,44] รายงานในวรรณคดีการเปลี่ยนแปลงนี้อาจจะประกอบไปร่วมปรากฏตัวของASiOH และของ SiAOAZn สมมาตรโหมดการยืด นี้แสดงให้เห็นการก่อตัวของพันธะโควาเลนระหว่างจำนวนของกลุ่ม silanol พื้นผิวและการเจริญเติบโตของซิงค์ออกไซด์อนุภาคในข้อตกลงกับผลNMR. องค์ประกอบพื้นผิวของ ZSO-X ได้รับการศึกษาโดย XPS ในการเปรียบเทียบกับSiO2 เปลือยรับการรักษาด้วย NaOH ภายใต้เงื่อนไขเดียวกันของขั้นตอนการสังเคราะห์ ZSO-X. สเปกตรัมสำรวจของผง SiO2 เปลือยรับการรักษาด้วย NaOH แสดงให้เห็นว่าซิลิกอนคาดว่าและสายออกซิเจน ตำแหน่งพลังงานของยอด Si2p อยู่ที่ 103.2 eV ในขณะที่ O1s วงดนตรีที่เป็นศูนย์กลางที่ 532.5 eV กับผลงานที่มีขนาดเล็ก (แคลิฟอร์เนียได้ 10% ของทั้งหมด) ที่ 530.7 eV (รูป. S5 ข้อมูลสนับสนุน) นี้ส่วนหลังอาจจะได้รับมอบหมายให้มีแนวโน้มที่จะปรากฏตัวของ SiAOH และ / หรือเสียว? กลุ่ม [45]

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

พันธบัตรและปฏิสัมพันธ์ระหว่างซิงค์ออกไซด์ SiO2 ใน zso-x ยัง
ศึกษาสเปกตรัม ATR-FTIR zso-x ( รูปที่ 4 ) ในบริบทนี้
วงดนตรีที่ 954 ซม.  1 ซึ่งในสเปกตรัม SiO2 เปลือยประกอบกับ asiaoh
[ 41 ] ยืดการสั่นสะเทือน ( รูปที่ 4 ) และใน zso-4.0
zso-7.7 ค่อยๆเลื่อนสเปกตรัมความถี่สูง (  963 -
965 ซม.  1 ) และกลายเป็นไหล่ ( ภาพที่ 4B และ C ) .

หมายถึงสเปกตรัมของระบบ zincosilicate [ 42 ] และ ZnO / SiO2 คอมโพสิต
[ 43,44 ] รายงานในวรรณคดี การเปลี่ยนแปลงนี้อาจจะประกอบกับการปรากฏตัวของ asioh
Co และของสมมาตร siaoazn
ยืดโหมด นี้แสดงให้เห็นการก่อตัวของพันธบัตรโควาเลนต์
ระหว่างหมายเลขของกลุ่มไซลานอลบนพื้นผิวและการซิงค์ออกไซด์อนุภาคในข้อตกลงกับคุณ

)พื้นผิวองค์ประกอบของ zso-x ศึกษาโดยเปรียบเทียบกับ XPS
SiO2 เปลือยรักษาด้วย NaOH ภายใต้เงื่อนไขเดียวกัน

ของ zso-x การสังเคราะห์กระบวนการ สำรวจ สเปกตรัมของเปลือย SiO2 ผงรักษาด้วย NaOH
แสดงคาดว่าซิลิคอน และออกซิเจน สาย พลังงาน
ของ si2p สูงสุดอยู่ที่ 103.2 EV และ o1s วงเป็นศูนย์กลางที่
532.5 EV ที่มีผลงานขนาดเล็ก ( CA10 % ของทั้งหมด ) ที่ 530.7 EV
( รูป S5 สนับสนุนข้อมูล ) ส่วนนี้หลังอาจจะ
อาจมอบหมายให้มี siaoh และ / หรือเสียว  กลุ่ม [ 45 ]