BET and X-ray diffraction (XRD) tec

BET and X-ray diffraction (XRD) techniques were applied for characterization of synthesized supporting material. XRD analysis revealed only presence of anatase TiO2 phase in synthesized support powder. Existence of any peaks belonging to Nb compounds has not been observed, indicating Nb incorporated into the lattice.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

เดิมพันและเทคนิคการเลี้ยวเบนการเอ็กซ์เรย์ (XRD) ถูกนำไปใช้สำหรับคุณสมบัติของวัสดุสังเคราะห์สนับสนุน การวิเคราะห์ XRD เปิดเผยสถานะของ anatase ระยะ TiO2 ในผงสังเคราะห์สนับสนุน ยอดใด ๆ ของ Nb สารประกอบที่มีอยู่ได้ไม่ถูกตรวจสอบ แสดง Nb รวมเป็นโครงตาข่ายประกอบ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

การพนันและ X-ray diffraction (XRD) เทคนิคการถูกนำไปใช้สำหรับลักษณะของวัสดุสังเคราะห์สนับสนุน การวิเคราะห์ XRD เปิดเผยการแสดงตนเพียงอย่างเดียวของแอนาเทสเฟส TiO2 ในผงสนับสนุนสังเคราะห์ การดำรงอยู่ของยอดเขาใด ๆ ที่อยู่ในประเภทสาร Nb ยังไม่ได้รับการตรวจสอบแสดงให้เห็น Nb รวมเข้าไปในตาข่าย

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

เดิมพันและการเลี้ยวเบนของรังสีเอ็กซ์เทคนิคที่ใช้สำหรับการได้สนับสนุนวัสดุ การวิเคราะห์ XRD พบเพียงการปรากฏตัวของ anatase TiO2 ในขั้นตอนการสังเคราะห์ผงสนับสนุน การดำรงอยู่ของยอดของ NB ) ไม่ได้สังเกตว่า NB รวมเข้ากับตาข่าย