X-ray diffraction (XRD) was used to

X-ray diffraction (XRD) was used to identify the
phases present during processing. The products were
analysed for their chemical composition using a scanning
electron microscope. The analytical conditions
were 15–52 kV accelerating voltages and 60–120 s
counting time. The total rare earth content was analysed
by spectrophotometric method using Arsenazo III (Marczenko,
1986).

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

การเลี้ยวเบนรังสีเอ็กซ์ (XRD) ถูกใช้เพื่อระบุการขั้นตอนอยู่ระหว่างการประมวลผล ผลิตภัณฑ์ได้วิเคราะห์ขององค์ประกอบทางเคมีที่ใช้ในการสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน เงื่อนไขเชิงวิเคราะห์แรงดันเร่ง kV 15-52 และ 60 – 120 sการนับเวลา แก้ไขวิเคราะห์เนื้อหารวมหายากของโลกโดยวิธี spectrophotometric ใช้ Arsenazo III (Marczenko1986)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

X-ray การเลี้ยวเบน (XRD) ถูกนำมาใช้ในการระบุ
ขั้นตอนปัจจุบันระหว่างการประมวลผล ผลิตภัณฑ์ที่ได้รับการ
วิเคราะห์องค์ประกอบทางเคมีโดยใช้การสแกน
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน เงื่อนไขการวิเคราะห์
เป็น 15-52 กิโลโวลต์แรงดันไฟฟ้าและเร่ง 60-120 s
นับเวลา เนื้อหาแผ่นดินที่หายากทั้งหมดได้รับการวิเคราะห์
โดยวิธีสเปกใช้ Arsenazo iii (Marczenko,
1986)