operated at 40 kV and 30 mA, equipp

operated at 40 kV and 30 mA, equipped with Cu Kα radiation
at a wavelength of 0.1546 nm and a curved graphite crystal
monochromator.

Samples were scanned over the range of diffraction
angle of 2θ = 1 to 10◦ with a scanning rate of 0.4◦/min at
room temperature.

The basal spacing of the silicate layer (d001) was
calculated using the Bragg’s equation, λ = 2d sin θ, where λ is
the wavelength of the X-ray radiation used (0.1546 nm), d is the
spacing between diffractional lattice planes, and θ is the measured
diffraction angle.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ดำเนินการใน 40 kV และ 30 mA มีรังสี Cu Kαที่ความยาวคลื่นของ 0.1546 nm และคริสตัลก้านโค้งmonochromator ตัวอย่างที่สแกนผ่านช่วงของการเลี้ยวเบนมุมของ 2θ = 1 10◦ มีอัตราการสแกน 0.4◦ / min ที่ที่อุณหภูมิห้องมีระยะห่างของชั้นซิลิเก (d001) โรคคำนวณโดยใช้สมการของ Bragg λ =θบาป 2d λอยู่ความยาวคลื่นของรังสีเอกซเรย์ที่ใช้ (0.1546 nm), d คือการระยะห่างระหว่างโครงตาข่ายประกอบ diffractional เครื่องบิน และθคือ การวัดมุมการเลี้ยวเบน

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

การดำเนินการที่ 40 กิโลโวลต์และ 30 มิลลิแอมป์พร้อมกับการฉายรังสี Cu
Kαที่ความยาวคลื่น0.1546 นาโนเมตรและคริสตัลกราไฟท์โค้ง
monochromator. ตัวอย่างถูกสแกนในช่วงของเลนส์มุม2θ = 1 ถึง10◦มีอัตราการสแกน0.4◦ / นาทีที่อุณหภูมิห้อง. ระยะห่างฐานของชั้นซิลิเกต (D001) ถูกคำนวณโดยใช้สมการของแบรกก์λ = θบาป 2d ที่λคือความยาวคลื่นของรังสีเอ็กซ์เรย์ที่ใช้(0.1546 นาโนเมตร) d คือระยะห่างระหว่างเครื่องบินตาข่าย diffractional และθคือวัดมุมการเลี้ยวเบน

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ดำเนินการใน 40 กิโล และมา 30 พร้อมกับ Cu K
αรังสีที่ความยาวคลื่น 0.1546 nm และโค้งแกรไฟต์คริสตัล
โมโนโครเมเตอร์ . ตัวอย่าง

ถูกสแกนผ่านช่วงของเลนส์มุมθ
2 = 1 ถึง 10 ◦ที่มีอัตราการสแกนของ 0.4 ◦ / นาทีที่อุณหภูมิห้อง


ระยะห่างแรกเริ่มของชั้นซิลิเกต ( d001 ) คือ
คำนวณโดยใช้สมการของ Bragg , λ = 2D บาปθที่λคือ
ความยาวคลื่นของรังสีเอกซ์รังสีที่ใช้ ( 0.1546 nm ) , D
ระยะห่างระหว่างเครื่องบิน diffractional ขัดแตะ และθเป็นวัด
เลนส์มุม