In this research Al2O3 thin films d

In this research Al2O3 thin films deposited on the ion-exchanged glass were prepared using e-beam evaporation assisted with ion source technique. The treated samples were characterized in terms of both concentration gradients and mechanical strength to define the influence of physical vapor deposition on the final performances. Moreover, Raman spectroscopy measurements were carried out from the glass slides beneath the surface in order to investigate the microstructure of the silica network of the different samples.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ในงานวิจัยนี้ Al2O3 ฝากฟิล์มบางบนกระจกแลกเปลี่ยนไอออนถูกเตรียมโดยใช้ลำแสงอีระเหยช่วย ด้วยเทคนิคแหล่งไอออน ตัวอย่างการบำบัดมีลักษณะไล่ระดับความเข้มข้นและแข็งแรงทางกลเพื่อกำหนดอิทธิพลของสะสมไอทางกายภาพในการแสดงขั้นสุดท้าย นอกจากนี้ รามันสเปกโทรสโกวัดถูกหามออกจากกระจกสไลด์ใต้ผิวเพื่อตรวจสอบโครงสร้างจุลภาคของเครือข่ายซิลิก้าตัวอย่างแตกต่างกัน

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ในการวิจัยครั้งนี้ Al2O3 ฟิล์มบางวางลงบนแก้วแลกเปลี่ยนไอออนที่ถูกจัดทำขึ้นโดยการระเหย E-คานช่วยด้วยเทคนิคแหล่งกำเนิดไอออน กลุ่มตัวอย่างที่ได้รับการรักษามีลักษณะทั้งในแง่ของการไล่ระดับสีความเข้มข้นและความแข็งแรงเชิงกลที่จะกำหนดอิทธิพลของสะสมไอทางกายภาพในการแสดงครั้งสุดท้าย นอกจากนี้รามันวัดสเปกโทรสโกได้ดำเนินการจากกระจกสไลด์อยู่ใต้พื้นผิวเพื่อตรวจสอบโครงสร้างจุลภาคของเครือข่ายซิลิกาของกลุ่มตัวอย่างที่แตกต่างกัน

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ในการวิจัยนี้ Al2O3 ฟิล์มบางเงินแลกเปลี่ยนไอออนที่เตรียมจากการใช้ e-beam ช่วยแก้วด้วยเทคนิคแหล่งไอออน การเปรียบเทียบลักษณะ ทั้งในแง่ของอัตราส่วนของความเข้มข้นและมีความแข็งแรงเชิงกลเพื่ออธิบายอิทธิพลของสะสมไอทางกายภาพในการแสดงสุดท้าย นอกจากนี้ รามันสเปกโทรสโกปีการวัดถูกหามออกไปจากกระจกสไลด์ใต้ผิวเพื่อศึกษาสมบัติของซิลิกาในเครือข่ายของกลุ่มตัวอย่างที่แตกต่างกัน