To evaluate the effect of IR on mic

To evaluate the effect of IR on microstructure of rice kernels, scanning electron microscopy (SEM) technique was applied.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

การประเมินผลของ IR ในโครงสร้างจุลภาคของเมล็ดข้าว การสแกนเทคนิคกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM) ถูกนำไปใช้

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

เพื่อประเมินผลกระทบของ IR บนจุลภาคของเมล็ดข้าว, กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM) เทคนิคการถูกนำมาใช้

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

เพื่อศึกษาผลของ IR โครงสร้างจุลภาคของเมล็ดข้าว , กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) เทคนิคที่ใช้