The structural stability and ion co

The structural stability and ion conductivity of (La1.8Dy0.2)(Mo2−xWx)O9 are studied using scanning electron microscopy, X-ray diffraction,
X-ray photoelectron spectroscopy (XPS), and impedance spectroscopy. The structural stabilization effect of W is demonstrated by comparing the
microstructures and the oxidation states of ions of as-sintered and H2-reduced samples. Without tungsten, the H2-reduced surface of (La1.8Dy0.2)
Mo2O9 is engraved with deep notches at grain boundaries and shallow cuts in the grain interior. At a sufficient W level, the H2-reduced surface
is similar to the surface without H2 reduction. The XPS analysis concludes that 20% Mo on the (La1.8Dy0.2)Mo2O9 surface is reduced to Mo4+
and Mo0, whilst all Mo is detected at the oxidation state of +6 in (La1.8Dy0.2)(Mo1W1)O9 after 600 °C 3%H2 reduction. No α–β phase
transformation is experienced in any specimens of (La1.8Dy0.2)(Mo2−xWx)O9, when heated from 300 to 800 °C. The room-temperature lattice
parameter of β-phase increases with increasing W content, reaches a maximum at x=1.0, then decreases. Considering the W structural
stabilization effect, its unfavorable influence on conductivity is tolerable because the sample of (La1.8Dy0.2)(Mo1W1)O9 exhibits a conductivity of
0.18 S cm−1 at 800 °C, still higher than 0.08 S cm−1 of La2Mo2O9. The temperature dependence of ion conductivity in this doubly substituted
LAMOX is correlated to the Arrhenius form from 350 to 450 °C and the Vogel–Tamman–Fulcher form from 450 to 800 °C, and discussed

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

โครงสร้างเสถียรภาพและนำไอออนของ O9 (La1.8Dy0.2) (Mo2−xWx) ได้ศึกษาโดยใช้การสแกนอิเล็กตรอน microscopy เอกซเรย์การเลี้ยวเบนก photoelectron เอกซเรย์ (XPS), และกความต้านทาน คือแสดงผลโครงสร้างเสถียรภาพของ W โดยการเปรียบเทียบการmicrostructures และสถานะออกซิเดชันของประจุเป็นเผา และ H2 ลดลงตัวอย่าง โดยทังสเตน H2 ลดพื้นผิวของ (La1.8Dy0.2)Mo2O9 เป็นการแกะสลัก ด้วยแสงลึกขอบข้าวและลดตื้นในภายในเมล็ดข้าว ในระดับ W พอ ผิว H2 ลดลงมีลักษณะคล้ายกับผิว H2 ลด สรุปวิเคราะห์ XPS ที่หม้อบนผิว Mo2O9 (La1.8Dy0.2) จะลดลงเป็น Mo4 + 20%และ Mo0 ในขณะที่ตรวจพบหมอทั้งหมดที่สถานะออกซิเดชันของ + 6 ใน O9 (La1.8Dy0.2) (Mo1W1) หลังจากลดลง 3% H2 600 ° C ไม่มีเฟสα-βการเปลี่ยนแปลงเป็นประสบการณ์ในใด ๆ ไว้เป็นตัวอย่างของ (La1.8Dy0.2) (Mo2−xWx) O9 เมื่อความร้อนจาก 300 800 องศาเซลเซียส โครงตาข่ายประกอบอุณหภูมิห้องพารามิเตอร์β-ระยะเพิ่มกับเพิ่มเนื้อหา W ถึงสูงสุดที่ x = 1.0 แล้ว ลด พิจารณาโครงสร้างของ Wเสถียรภาพผล การนำอิทธิพลร้ายคือ tolerable เนื่องจากนำของการจัดแสดงตัวอย่างของ O9 (La1.8Dy0.2) (Mo1W1)Cm−1 S 0.18 ที่ 800 ° C ยังคงสูงกว่า 0.08 ตามลำดับ S cm−1 ของ La2Mo2O9 อาศัยอุณหภูมิของนำไอออนทั้งสองเหตุการณ์แทนLAMOX correlated ฟอร์มอาร์เรเนียสจาก 350 ถึง 450 ° C และรูปแบบโวเกล – Tamman – Fulcher จาก 450 ถึง 800 ° C และกล่าวถึง

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

เสถียรภาพของโครงสร้างและการนำไอออน (La1.8Dy0.2) (Mo2-xWx) O9 มีการศึกษาโดยใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน X-ray diffraction,
X-ray spectroscopy โฟโตอิเล็กตรอน (XPS) และสเปคโทรต้านทาน ผลกระทบเสถียรภาพของโครงสร้างของ W จะแสดงให้เห็นโดยการเปรียบเทียบ
จุลภาคและออกซิเดชันของไอออนเป็นเผาและตัวอย่าง H2 ลด โดยไม่ต้องทังสเตนพื้นผิว H2-ลดลง (La1.8Dy0.2)
Mo2O9 สลักหยักลึกที่ข้าวเขตแดนและการตัดตื้นในภายในเมล็ดข้าว ในระดับที่เพียงพอ W, พื้นผิว H2-ลดลง
จะคล้ายกับผิวโดยไม่ต้องลด H2 การวิเคราะห์ XPS สรุปว่า 20% ใน Mo (La1.8Dy0.2) พื้นผิว Mo2O9 จะลดลงไป MO4 +
และ Mo0 ขณะ Mo ทั้งหมดจะถูกตรวจพบในสถานะออกซิเดชันของ 6 ใน (La1.8Dy0.2) (Mo1W1) O9 หลังจากที่ 600 ° C ลด H2 3% ไม่มีขั้นตอนαβ-
การเปลี่ยนแปลงมีประสบการณ์ในการใด ๆ ของชิ้นงาน (La1.8Dy0.2) (Mo2-xWx) O9 เมื่อความร้อน 300-800 องศาเซลเซียส ตาข่ายอุณหภูมิห้อง
พารามิเตอร์ของการเพิ่มขึ้นβเฟสที่มีการเพิ่มเนื้อหา W, ถึงสูงสุดที่ x = 1.0 แล้วลดลง เมื่อพิจารณาโครงสร้าง W
เสถียรภาพผลอิทธิพลที่ไม่เอื้ออำนวยที่มีต่อการนำเป็นที่ยอมรับเพราะตัวอย่าง (La1.8Dy0.2) (Mo1W1) O9 จัดแสดงนิทรรศการการนำของ
0.18 ซม. S-1 ที่ 800 ° C ยังคงสูงกว่า 0.08 ซม 1 จาก La2Mo2O9 ขึ้นอยู่กับอุณหภูมิของการนำไอออนในเรื่องนี้แทนทวีคูณ
LAMOX มีความสัมพันธ์กับรูปแบบ Arrhenius 350-450 องศาเซลเซียสและรูปแบบ Vogel-Tamman-Fulcher 450-800 องศาเซลเซียสและพูดคุยกัน

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

โครงสร้างความมั่นคงและไอออน conductivity ( la1.8dy0.2 ) ( mo2 − xwx ) การศึกษาโดยใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนสแกน รังสีเอกซ์เลี้ยวเบน
เครื่อง X-ray photoelectron spectroscopy ( XPS ) และอิมพีแดนซ์สเปกโทรสโกปี ผลการรักษาเสถียรภาพของโครงสร้าง W แสดงให้เห็นโดยการเปรียบเทียบโครงสร้างจุลภาคและ
สถานะออกซิเดชันของไอออนเป็น เผาและ H2 ลดลง ตัวอย่าง ไม่มีทังสเตนโดย H2 ลดพื้นผิว ( la1.8dy0.2 )
mo2o9 จารึกหยักลึกที่ตื้นและในขอบเขตเม็ดตัดเม็ดภายใน ที่เพียงพอในระดับ , H2 ลดลงผิวหน้า
คล้ายกับพื้นผิวโดยไม่มีการลดราคา . The XPS การวิเคราะห์พบว่า 20% โม ( la1.8dy0.2 ) mo2o9 พื้นผิวจะลดลงและ mo4
mo0 ในขณะที่ทั้งหมดโมถูกตรวจพบในสถานะออกซิเดชัน 6 ( la1 .8dy0.2 ) ( mo1w1 หลังจาก 600 ° C ) การลด 3 % H2 . ไม่α–βเฟส
แปลงประสบการณ์ในการศึกษา ( la1.8dy0.2 ) ( mo2 − xwx ) การ เมื่อความร้อนจาก 300 800 องศา อุณหภูมิห้องแลตทิซพารามิเตอร์ของบีตา -
เฟสเพิ่มขึ้น เมื่อน้ำหนักเนื้อหา ถึงสูงสุดที่ x = 1.0 แล้วลดลง พิจารณา w
เสถียรภาพโครงสร้างผลอิทธิพลร้ายของไฟฟ้าเป็นที่ยอมรับ เพราะตัวอย่างของ ( la1.8dy0.2 ) ( mo1w1 ) การจัดแสดงแบบจำลอง
. s cm − 1 ใน 800 ° C ยังคงสูงกว่า 0.08 s cm − 1 la2mo2o9 . พึ่งพาอุณหภูมิของไอออน conductivity ในนี้แทน
lamox ทวีคูณมีความสัมพันธ์กับรูปแบบของจาก 350 เป็น 450 องศา C และ Vogel – tamman – Fulcher แบบฟอร์มจาก 450 ไป 800 ° Cและกล่าวถึง