Quantitative Analysis with EDX show

Quantitative Analysis with EDX shows also a
promising measurement accuracy of the concentration
within 1%. It is performed in an SEM as top view. By
changing the acceleration voltage compositional changes
in depth can be detected. But due to the small penetration
depth of some tens of nanometers it is still a surface
analysis. Here a solder preform is used for calibration.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

นอกจากนี้ยัง มีเรื่องการวิเคราะห์เชิงปริมาณแสดงความสัญญาของความเข้มข้นภายใน% 1 มันจะดำเนินใน SEM ที่เป็นมุมมองด้านบน โดยการเปลี่ยนเปลี่ยนแปลง compositional แรงเร่งลึกสามารถตรวจจับ แต่เนื่อง จากเจาะขนาดเล็กความลึกของ nanometers เป็นสิบบางยังพื้นผิววิเคราะห์ มาสเตอร์แบทช์สีดำการประสานนี่จะใช้สำหรับปรับเทียบ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

การวิเคราะห์เชิงปริมาณด้วย EDX
แสดงให้เห็นว่ายังมีความถูกต้องวัดมีแนวโน้มของความเข้มข้นภายใน
1% มันเป็นเรื่องที่ดำเนินการใน SEM เป็นมุมมองด้านบน โดยการเปลี่ยนแรงดันไฟฟ้าเร่งการเปลี่ยนแปลงองค์ประกอบในเชิงลึกสามารถตรวจพบได้ แต่เนื่องจากการเจาะขนาดเล็กความลึกของบางนับนาโนเมตรก็ยังคงเป็นพื้นผิวการวิเคราะห์ นี่ preform ประสานที่ใช้สำหรับการสอบเทียบ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การวิเคราะห์ด้วยการวัดแสดงการวัดความถูกต้องของสัญญายัง

ภายในความเข้มข้น 1 % มันเล่นใน SEM เป็นด้านบนมุมมอง โดย
เปลี่ยนการเปลี่ยนแปลงแรงดันไฟฟ้าส่วนประกอบ
ในความลึก สามารถตรวจพบ แต่เนื่องจากการขนาดเล็กเจาะ
ความลึกของบาง 10 นาโนเมตรมันยังมีการวิเคราะห์ผิว

ที่นี่บัดกรี preform สำหรับใช้ในการสอบเทียบ