Mineralogical investigations were p

Mineralogical investigations were performed by X-ray diffraction (XRD) with a Shimadzu XRD-6000 model diffractometer with a Ni filter and CuKα radiation on random and oriented samples.
The diffraction patterns
were recorded between 2° and 70° (2θ) at a scanning
speed of 2° (2θ)/min. Bulk mineralogy was determined
on random powders. Clay mineralogy was determined
by separation of the fraction of less than 2 µm with
sedimentation. Measurements were carried out on samplesthat were air-dried, ethylene glycol-solvated, and heated to
550°C (Brown 1972). Mineral abundances of samples were
determined by interpretation of XRD data. The procedure
of this method was described by Chung (1974). The error
margin of this method is approximately 10%.
Morphological and microchemical analyses were
carried out using a LEO VP-1431 scanning electron
microscope with an energy dispersive X-ray spectrometer
(SEM-EDX). Before the SEM analysis, samples were coated
with a thin film (thickness: 25 nm) of gold using a sputter
coater to make the sample conductive.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

Mineralogical สืบสวนถูกดำเนิน โดยการเอ็กซ์เรย์การเลี้ยวเบน (XRD) กับการ Shimadzu XRD 6000 รุ่น diffractometer กรอง Ni และ CuKα รังสีในตัวอย่างสุ่ม และแนวรูปแบบการเลี้ยวเบนบันทึกระหว่าง 2° และ 70° (2θ) ที่มีการสแกนความเร็วขององศา 2 (2θ) / กำหนดส่วนลดจำนวนมาก mineralogyในผงสุ่ม กำหนด mineralogy ดินโดยแยกส่วนของ µm 2 น้อยกว่าด้วยตกตะกอน วัดได้ดำเนินการออกใน samplesthat ได้ air-dried, solvated glycol เอทิลีน และว่ายไป550° C (น้ำตาล 1972) Abundances แร่ตัวอย่างได้กำหนดความหมายของข้อมูล XRD ขั้นตอนการวิธีนี้ถูกอธิบาย โดยชุ (1974) ข้อผิดพลาดขอบของวิธีนี้คือ ประมาณ 10%วิเคราะห์สัณฐาน และ microchemical ได้ดำเนินการโดยใช้อิเล็กตรอนแบบสแกนวีลีโอ-1431กล้องจุลทรรศน์ มีการพลังงาน dispersive เอกซเรย์สเปกโตรมิเตอร์(เรื่อง) ได้เคลือบตัวอย่างก่อนการวิเคราะห์ SEMฟิล์มบาง ๆ (หนา: 25 nm) ใช้ sputter เป็นทองคำcoater ทำอย่างการไฟฟ้า

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

การตรวจสอบแร่ที่ดำเนินการโดย X-ray diffraction (XRD) ที่มีรูปแบบ Shimadzu XRD-6000 diffractometer กับตัวกรอง Ni และการฉายรังสีCuKαตัวอย่างสุ่มและมุ่งเน้น.
รูปแบบการเลี้ยวเบนที่ถูกบันทึกไว้ระหว่าง 2 °และ 70 ° (2θ) ในการสแกน ความเร็วของ 2 ° (2θ) / นาที แร่เป็นกลุ่มที่ถูกกำหนดในผงสุ่ม แร่ดินเหนียวถูกกำหนดโดยการแยกส่วนของน้อยกว่า 2 ไมครอนกับการตกตะกอน วัดได้ดำเนินการใน samplesthat ถูกอากาศแห้ง, เอทิลีนไกลคอล-solvated และความร้อนถึง550 องศาเซลเซียส (สีน้ำตาล 1972) ปริมาณแร่ของตัวอย่างที่ถูกกำหนดโดยการตีความข้อมูล XRD ขั้นตอนของวิธีการนี้ถูกอธิบายโดยจุง (1974) ข้อผิดพลาดที่อัตรากำไรขั้นต้นของวิธีการนี้จะอยู่ที่ประมาณ 10%. การวิเคราะห์ทางสัณฐานวิทยาและ microchemical ถูกดำเนินการโดยใช้อิเล็กตรอนแบบส่องกราดLEO VP-1431 กล้องจุลทรรศน์ที่มีสเปกโตรมิเตอร์พลังงานกระจาย X-ray (SEM-EDX) ก่อนที่จะมีการวิเคราะห์ SEM ตัวอย่างถูกเคลือบด้วยฟิล์มบาง(หนา 25 นาโนเมตร) ทองใช้ปะทุCoater เพื่อให้ตัวอย่างเป็นสื่อกระแสไฟฟ้า

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การตรวจสอบเพื่อแสดงโดยการเลี้ยวเบนของรังสีเอ็กซ์ด้วยดิฟแฟรกโทมิเตอร์ Shimadzu xrd-6000 แบบที่มีชั้นกรองและ cuk αรังสีสุ่มและมุ่งเน้นตัวอย่างรูปแบบการเลี้ยวเบน

ถูกบันทึกไว้ระหว่าง 2 เมตร และ 70 องศา ( 2 θ ) ในการสแกน
ความเร็ว 2 องศา / นาที ( 2 θ ) เป็นกลุ่มแร่คือ มุ่งมั่น
บนผงสุ่ม แร่ดินเหนียวตั้งใจ
โดยแยกเป็นสัดส่วนน้อยกว่า 2 µ
M ด้วยการตกตะกอน วัด ได้ดำเนินการใน samplesthat แห้ง solvated เอทิลีนไกลคอลและอุ่น

550 องศา C ( สีน้ำตาล 1972 ) แร่ abundances ของจำนวน
กำหนดโดยการแปลความหมายของข้อมูลที่วิเคราะห์ . ขั้นตอน
วิธีนี้ได้อธิบายโดย ชุง ( 1974 ) ข้อผิดพลาด
ขอบของวิธีนี้คือประมาณ 10
%และวิเคราะห์ข้อมูลโดย microchemical
โดยใช้ราศีสิงห์ vp-1431 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนที่มีพลังงานกระจายตัว X-ray Spectrometer

( sem-edx ) ก่อนการวิเคราะห์ SEM จำนวนเคลือบ
ด้วยฟิล์มบาง ( ความหนา : 25 nm ) ทองใช้ละล่ำละลัก
coater เพื่อให้ตัวอย่างที่สามารถ .