Fig. 6. TEM micrographs showing som

Fig. 6. TEM micrographs showing some transversal cuts of pure cellulose beads (SCB) in (a) and (b); the composite magnetic material SCB-C25 is shown in the micrographs
(c)–(e) taken at different magnifications. The Selected Area Electron Diffraction pattern taken on the aggregate of nanoparticles in (e) is shown in (f), is indexed as a pure
magnetite Fe3O4 phase

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

Fig. 6 Micrographs ยการแสดงบางตัด transversal ประคำเซลลูโลสบริสุทธิ์ (SCB) ใน (ก) และ (b) วัสดุแม่เหล็กผสม SCB C25 จะแสดงใน micrographs(c)–(e) ขนาดแตกต่างกัน การเลือกตั้งอิเล็กตรอนการเลี้ยวเบนจะแสดงรูปแบบดำเนินการรวมของการเก็บกักใน (e) (f), ถูกทำดัชนีเป็นความบริสุทธิ์ระยะ magnetite Fe3O4

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

รูปที่ 6 micrographs TEM แสดงขวางตัดเม็ดเซลลูโลสบริสุทธิ์ จำกัด ( มหาชน ) ( a ) และ ( b ) ; scb-c25 แม่เหล็กวัสดุคอมโพสิตที่แสดงใน micrographs
( C ) และ ( E ) ที่ถ่าย magnifications แตกต่างกัน เลือกพื้นที่การเลี้ยวเบนอิเล็กตรอนแบบถ่ายรวมของอนุภาคนาโน ( E ) จะแสดงใน ( F ) เป็นดัชนีเป็นเพียว
fe3o4 เฟสแม่เหล็ก