CdTe detectors are often used to me

CdTe detectors are often used to measure the spectrum emitted from an X-ray tube. A 1 mm thick
CdTe detector has excellent sensitivity up to 100 keV, with a photopeak efficiency >90% to 65 keV. This is
far superior to Si detectors, where the efficiency drops off by 20 keV. But the response function of the CdTe
detector differs from that of Si or Ge detectors and these differences must be addressed to obtain
quantitative results. Escape of the characteristic Cd and Te X-rays causes particularly noticeable effects.
Figure 1 shows a typical X-ray tube spectrum measured with an XR100T-CdTe detector. This was an
80 kVp tube with a tungsten anode and a 15 keV aluminum filter. Escape of the characteristic X-rays leads
to two features which are clearly visible. First, there are discontinuities in the spectrum at 27 and 32 keV.
Second, although the filter should stop essentially all X-rays incident on the detector below 15 keV, there is a
clear edge at this point, many lower energy events are seen.

Both of these features are due to escape eventsi
. The Cd and Te K edges are 26.7 and 31.8 keV
respectively. Photons with incident energy just above these edges undergo photoelectric interactions,
leaving the Cd and Te atoms in an excited state. When the atoms transition to the ground level they often
emit a characteristic X-ray at one of the energies shown in Table 1. Depending on the direction, this X-ray
may leave the CdTe volume so only a small amount of the incident energy is deposited. Such events lead to
fewer full energy events (causing the absorption edges) and more low energy events (below the filter value)
than would otherwise occur. This process is responsible for the escape peaks which are well known in
spectroscopy, but with a tube there is a continuum of escape events. Escape events are more important in
CdTe than in Si or Ge due to the much higher energies of the characteristic X-rays. Fortunately, algorithms
exist to “clean up” this artifact and are available in software sold by Amptek, Inc.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

จับ CdTe มักใช้เพื่อวัดสเปกตรัมเปล่งออกมาจากตัวหลอดเอกซเรย์ มม. 1 หนาCdTe จับได้ไวดีถึง 100 keV มีประสิทธิภาพ photopeak > 90% กับ 65 keV นี่คือไกลเหนือกว่าจับศรี ที่ประสิทธิภาพลดลงปิด โดย 20 keV แต่ฟังก์ชันการตอบสนองของ CdTeเครื่องตรวจจับที่แตกต่างจากเครื่องตรวจจับซีหรือ Ge และความแตกต่างเหล่านี้ต้องได้รับการรับผลลัพธ์เชิงปริมาณ หลบหนีในลักษณะซีดีและ X-rays ติทำให้ผลกระทบที่เห็นได้ชัดโดยเฉพาะอย่างยิ่งรูปที่ 1 แสดงสเปกตรัมหลอดเอ็กซ์เรย์ทั่วไปที่วัด ด้วยการจับ XR100T CdTe นี้เป็นการท่อ 80 kVp ขั้วทังสเตนและกรองอลูมิเนียม 15 keV เป้าหมายของรังสีเอกซ์ลักษณะลักษณะที่สองการ ซึ่งจะมองเห็นได้อย่างชัดเจน ครั้งแรก ได้ discontinuities ในที่ที่ 27 และ 32 keVที่สอง ถึงแม้ว่าตัวกรองควรหยุดหลักทั้งหมดรังสีเอกซ์เหตุการณ์บนจับล่าง 15 keV มีการล้างขอบที่จุดนี้ พลังงานต่ำมากที่เห็นเหตุการณ์ ทั้งคุณลักษณะเหล่านี้ได้เนื่องจาก eventsi หนี. ซีดีและเค Te ขอบเป็น 26.7 และ 31.8 keVตามลำดับ Photons กับปัญหาพลังงานเหนือขอบเหล่านี้รับการโต้ตอบ photoelectricออกซีดีและ Te อะตอมในสถานะที่ตื่นเต้น เมื่ออะตอมเปลี่ยนระดับพื้นดินที่พวกเขามักจะส่งเอกซเรย์เป็นลักษณะหนึ่งของพลังงานที่แสดงในตารางที่ 1 ขึ้นอยู่กับทิศทาง เอกซเรย์นี้อาจทำให้ปริมาณ CdTe เพื่อให้มีเฉพาะขนาดเล็กฝากจำนวนพลังงานแก้ไขปัญหาได้ เหตุการณ์ดังกล่าวทำให้น้อยเต็มเหตุการณ์พลังงาน (สาเหตุขอบดูดซึม) และเพิ่มเติมกิจกรรมพลังงานต่ำ (ข้างล่างค่ากรอง)กว่าจะเกิด กระบวนการนี้รับผิดชอบแห่งการหลบหนีซึ่งเป็นที่รู้จักกันดีในก มีท่อที่มีความต่อเนื่องของหนีเหตุการณ์ หนีเหตุการณ์มีความสำคัญมากขึ้นในCdTe กว่าศรีหรือ Ge เนื่องจากพลังงานที่มากขึ้นของลักษณะ X-rays โชคดี อัลกอริทึมมีการ "ล้าง" สิ่งประดิษฐ์นี้ และพร้อมใช้งานในซอฟต์แวร์ขาย โดย Amptek, inc

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

เครื่องตรวจจับ CdTe มักจะใช้ในการวัดสเปกตรัมปล่อยออกมาจากหลอดรังสีเอกซ์ 1
มมตรวจจับCdTe มีความไวที่ดีเยี่ยมถึง 100 เคฟที่มีประสิทธิภาพ photopeak> 90% ถึง 65 เคฟ นี่คือไกลกว่าเครื่องตรวจจับศรีที่มีประสิทธิภาพลดลงโดย 20 เคฟ
แต่ฟังก์ชั่นการตอบสนองของ CdTe ตรวจจับแตกต่างจากที่ศรีจีอีหรือเครื่องตรวจจับและความแตกต่างเหล่านี้จะต้องได้รับการแก้ไขที่จะได้รับผลเชิงปริมาณ การหลบหนีของลักษณะ Cd และ Te รังสีเอกซ์ทำให้เกิดผลที่เห็นได้ชัดเจนโดยเฉพาะอย่างยิ่ง. รูปที่ 1 แสดงสเปกตรัมหลอดเอ็กซ์เรย์ทั่วไปวัดได้ด้วยเครื่องตรวจจับ XR100T-CdTe นี่เป็นหลอด 80 kVp กับขั้วบวกทังสเตนและกรองอลูมิเนียมเคฟ 15 การหลบหนีของลักษณะรังสีเอกซ์นำไปสู่การสองคุณสมบัติที่มองเห็นได้ชัดเจน แรกมีต่อเนื่องในคลื่นความถี่ที่ 27 และ 32 เคฟได้. ประการที่สองแม้ว่ากรองควรจะหยุดทุกเหตุการณ์ที่เกิดขึ้นเป็นหลักรังสีเอกซ์ในการตรวจจับต่ำกว่า 15 เคฟที่มีขอบชัดเจนที่จุดนี้ที่ต่ำกว่าหลายเหตุการณ์ที่เกิดขึ้นจะเห็นพลังงานทั้งสองของคุณสมบัติเหล่านี้จะครบกำหนดที่จะหลบหนี eventsi แผ่นซีดีและ Te ขอบ K เป็น 26.7 และ 31.8 เคฟตามลำดับ โฟตอนที่มีพลังงานเหตุการณ์ที่เกิดขึ้นเหนือขอบเหล่านี้ได้รับการปฏิสัมพันธ์ตาแมวออกจากอะตอม Cd และ Te ในสถานะที่ตื่นเต้น เมื่อการเปลี่ยนแปลงอะตอมในระดับพื้นดินที่พวกเขามักจะออกมาเป็นลักษณะเอ็กซ์เรย์ที่หนึ่งของพลังงานที่แสดงในตารางที่ 1 ขึ้นอยู่กับทิศทางนี้ X-ray อาจทำให้ปริมาณ CdTe เพื่อให้เพียงเล็กน้อยของพลังงานเป็นเหตุการณ์ที่เกิดขึ้น ฝาก เหตุการณ์ดังกล่าวนำไปสู่การที่น้อยกว่าเหตุการณ์พลังงานเต็มรูปแบบ (ที่ก่อให้เกิดการดูดซึมขอบ) และกิจกรรมอื่น ๆ อีกมากมายที่ใช้พลังงานต่ำ (ต่ำกว่าค่าตัวกรอง) กว่าอย่างอื่นที่จะเกิดขึ้น กระบวนการนี้จะเป็นผู้รับผิดชอบสำหรับยอดการหลบหนีซึ่งเป็นที่รู้จักกันดีในสเปกโทรสโก แต่มีหลอดมีความต่อเนื่องของเหตุการณ์ที่หลบหนี หนีเหตุการณ์ที่มีความสำคัญมากขึ้นในการCdTe กว่าในศรีจีอีหรือเนื่องจากการใช้พลังงานที่สูงมากของลักษณะรังสีเอกซ์ โชคดีที่อัลกอริทึมที่มีอยู่เพื่อ "ทำความสะอาด" สิ่งประดิษฐ์นี้และมีอยู่ในซอฟแวร์ที่ขายโดย Amptek, Inc

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

เครื่องตรวจจับ cdte มักจะใช้ในการวัดสเปกตรัมรังสีเอกซ์ออกมาจากหลอด 1 มม. หนา
cdte ตรวจจับได้ยอดเยี่ยมไวขึ้นถึง 100 เคลวิน ด้วยประสิทธิภาพ photopeak > 90% 65 เคฟ นี่คือ
เหนือกว่าเครื่องตรวจจับศรีที่ประสิทธิภาพลดลงไป 20 เคฟ แต่การตอบสนองการทำงานของ cdte
เครื่องตรวจจับจะแตกต่างจากที่ของจังหวัดหรือ GE เครื่องตรวจจับและความแตกต่างเหล่านี้ต้องให้ความสนใจขอรับ
ผลลัพธ์เชิงปริมาณ การหลบหนีของซีดีและยุ Te ลักษณะสาเหตุโดยเฉพาะอย่างยิ่งเห็นได้ชัดผล .
รูปที่ 1 แสดงโดยทั่วไปหลอดรังสีเอ็กซ์สเปกตรัมวัดที่มี xr100t cdte เครื่องตรวจจับ เป็นหลอดด้วย
80 ค่ากิโลโวลต์พีกแอโนดทังสเตนและ 15 เคลวินอลูมิเนียมฟิลเตอร์การหลบหนีของรังสีเอกซ์ลักษณะเฉพาะนัก
สองคุณลักษณะที่มองเห็นได้อย่างชัดเจน ครั้งแรก มีความไม่ต่อเนื่องในสเปกตรัมที่ 28 และ 32 เคฟ .
2 แม้ว่าตัวกรองควรจะหยุดหลักทั้งหมดและเหตุการณ์บนเครื่องต่ำกว่า 15 เคฟมี
ขอบชัดเจนที่จุดนี้ , มากลดพลังงานเหตุการณ์เห็น

ทั้งคุณลักษณะเหล่านี้เนื่องจากหนี eventsi

ซีดี และ ทีเคขอบเป็น 31.8 เคฟ
และ 26.7 ตามลำดับ โฟตอนที่มีพลังงานที่เกิดขึ้นเหนือขอบเหล่านี้ผ่านการปฏิสัมพันธ์ photoelectric
ออกจากแผ่นซีดีและ Te อะตอมในสถานะที่ตื่นเต้น เมื่ออะตอมเปลี่ยนระดับพื้นดินพวกเขามักจะ
ปล่อยรังสีเอกซ์ลักษณะเฉพาะหนึ่งของพลังที่แสดงในตารางที่ 1 ขึ้นอยู่กับทิศทางนี้ เรย์
อาจจะออกจาก cdte ปริมาณเพียงเล็กน้อยของปัญหาพลังงานจะเข้าบัญชี เหตุการณ์ดังกล่าวนำไปสู่
น้อยกว่าพลังงานเต็มเหตุการณ์ก่อให้เกิดการดูดซึมขอบ ) และเหตุการณ์พลังงานต่ำมาก ( ต่ำกว่าค่าไส้กรอง )
กว่า มิฉะนั้นจะเกิด กระบวนการนี้เป็นผู้รับผิดชอบหนียอดเขาซึ่งเป็นที่รู้จักกันดีใน
สเปกโทรสโกปี แต่เป็นหลอดมีความต่อเนื่องของเหตุการณ์หลบหนี