The decrease of photoelectron yield

The decrease of photoelectron yield of BGO with increasing sample height (from 2030 phe/MeV for a 1 mm thick sample down to 1690 phe/MeV for a 12 mm thick sample) was clearly observed

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

พบว่า ลดลงผลผลิต photoelectron ของภาษาด้วยความสูงของตัวอย่าง (จาก 2030 เพ/MeV สำหรับตัวอย่างหนา 1 มม.ลงไปเพ 1690/MeV สำหรับตัวอย่างหนา 12 มม.) เพิ่มขึ้นอย่างชัดเจน

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

การลดลงของอัตราผลตอบแทนของโฟโต BGO กับการเพิ่มความสูงของกลุ่มตัวอย่าง (จาก 2030 เพ / MeV สำหรับ 1 มิลลิเมตรหนาตัวอย่างลงไปที่ 1,690 เพ / MeV สำหรับตัวอย่าง 12 มมหนา) เป็นที่สังเกตได้อย่างชัดเจน

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การลดลงของผลผลิต กับการเพิ่มความสูงทำโฟโตอิเล็กตรอนตัวอย่าง ( จาก 2030 เพ / MeV สำหรับ 1 มม. หนาตัวอย่างลงไป 1690 เพ / MeV ตัวอย่างหนา 12 มม. ) ให้สังเกต