The morphology and chemical element

The morphology and chemical elements were characterized by
using a JEOL JSM-6 field emission scanning electron microscopy
(FESEM) equipped with an energy dispersive X-ray spectroscopy
(EDS) equipment. Further detailed structural information was
obtained by using a Hitachi (Tokyo, Japan) H-8100 transmission
electron microscope (TEM), and the corresponding selected area
electron diffraction (SAED). The X-ray powder diffraction (XRD)
pattern of the products was recorded by using a Advance D8 Xray
diffractometer. The water contact angle (CA) was measured
with 5 lL droplets of deionized water using a contact angle measurement
system (JC2000C1) at room temperature. And Fourier
transform infrared absorbance spectrum (FTIR) was recorded on
a Nicolet FTIR spectrophotometer. In addition, X-ray Photoelectron
Spectroscopy (XPS) measurement was performed to characterize
the chemical bonding states of the products surfaces. The superhydrophobic
surfaces of SiO2-coated SiC nanowires were irradiated
by UV lamps of 100 W (Xu Jiang Nanjing), and the light intensities
of 100 W Hg lamp is about 63,000 lux (9 mW/cm2).

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

มีลักษณะสัณฐานวิทยาและองค์ประกอบทางเคมีโดยใช้เป็นมลพิษฟิลด์ JEOL JSM-6 สแกน microscopy อิเล็กตรอน(FESEM) พร้อมกับมีพลังงาน dispersive เอกซเรย์กอุปกรณ์ (EDS) เพิ่มเติม ข้อมูลรายละเอียดโครงสร้างได้ได้รับโดยส่ง H-8100 ฮิตาชิ (โตเกียว ญี่ปุ่น)กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (ยการ), และพื้นที่ที่เลือกที่สอดคล้องกันอิเล็กตรอนการเลี้ยวเบน (SAED) การเอ็กซ์เรย์ผงการเลี้ยวเบน (XRD)รูปแบบของผลิตภัณฑ์ถูกบันทึก โดยใช้การ Xray D8 ล่วงหน้าdiffractometer มีวัดน้ำติดต่อมุม (CA)กับ 5 จะหยดน้ำ deionized ใช้วัดมุมติดต่อระบบ (JC2000C1) ที่อุณหภูมิห้อง และฟูรีเยแปลง absorbance อินฟราเรดสเปกตรัม (FTIR) มีบันทึกไว้เครื่องทดสอบกรดด่าง Nicolet FTIR นอกจากนี้ เอ็กซ์เรย์ Photoelectronก (XPS) วัดได้ดำเนินการกับลักษณะสารเคมียึดอเมริกาของพื้นผิวผลิตภัณฑ์ การ superhydrophobicพื้นผิวของ nanowires SiC SiO2 เคลือบถูก irradiatedโดยโคมไฟ UV 100 W (Xu เจียงหนานจิง), และปลดปล่อยก๊าซเบาของหลอดไฟ 100 W Hg เป็นประมาณ 63,000 lux (9 mW/cm2)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

สัณฐานและองค์ประกอบทางเคมีที่โดดเด่นด้วยการใช้ JEOL JSM-6 เขตการปล่อยสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (FESEM) พร้อมกับสเปคโทรกระจายพลังงานรังสีเอกซ์(EDS) อุปกรณ์ โครงสร้างข้อมูลเพิ่มเติมรายละเอียดได้ที่ได้จากการใช้ฮิตาชิ (โตเกียวประเทศญี่ปุ่น) ส่ง H-8100 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (TEM) และพื้นที่ที่เลือกที่สอดคล้องกันการเลี้ยวเบนของอิเล็กตรอน(Saed) เลี้ยวเบนผงรังสีเอ็กซ์ (XRD) รูปแบบของผลิตภัณฑ์ที่ได้รับการบันทึกโดยใช้ล่วงหน้า D8 Xray diffractometer มุมติดต่อน้ำ (CA) วัด5 หยดน้ำจะปราศจากไอออนโดยใช้การวัดมุมการติดต่อระบบ (JC2000C1) ที่อุณหภูมิห้อง และฟูริเยร์แปลงสเปกตรัมการดูดกลืนแสงอินฟราเรด (FTIR) ถูกบันทึกลงบน spectrophotometer เล FTIR นอกจากนี้การเอ็กซ์เรย์ไฟฟ้าจากแสงสเปก (XPS) วัดได้ดำเนินการที่จะอธิบายลักษณะทางเคมีรัฐพันธะของพื้นผิวผลิตภัณฑ์ superhydrophobic พื้นผิวของเส้นลวดนาโน SiC SiO2 เคลือบถูกฉายรังสีโดยโคมไฟยูวี100 วัตต์ (ซูเจียงหนานจิง) และความเข้มแสงของหลอดไฟ100 W ปรอทเป็นเรื่องเกี่ยวกับ 63,000 ลักซ์ (? 9 mW / cm2)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ทางสัณฐานวิทยาและองค์ประกอบทางเคมีเป็น characterized โดย
ใช้จอล jsm-6 ด้านการสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนชนิดส่องกราด (
fesem ) พร้อมกับพลังงานกระจายตัวเอกซ์เรย์
( EDS ) อุปกรณ์ เพิ่มเติมรายละเอียดโครงสร้างสารสนเทศ
ได้โดยใช้ Hitachi ( โตเกียว , ญี่ปุ่น ) h-8100
ส่งกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน ( TEM ) และที่เลือกพื้นที่
การเลี้ยวเบนอิเล็กตรอน ( saed )การเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์ผง ( XRD )
รูปแบบของผลิตภัณฑ์ที่ถูกบันทึกไว้โดยใช้ล่วงหน้า d8 Xray
ดิฟแฟรกโทมิเตอร์ . มุมสัมผัสของน้ำ ( CA ) วัด
5 จะหยดคล้ายเนื้อเยื่อประสานน้ำโดยใช้ระบบวัด
มุมที่ติดต่อ ( jc2000c1 ) ที่อุณหภูมิห้อง สเปกตรัมการดูดกลืนแสงอินฟราเรดและการแปลงฟูเรียร์
( FTIR ) ถูกบันทึกไว้ในการ nicolet ( วัสดุ นอกจากนี้
X-ray photoelectron spectroscopy ( XPS ) วัดได้ลักษณะ
พันธะเคมี รัฐของผลิตภัณฑ์พื้นผิว พื้นผิวของ SiO2 นาโนเคลือบซูเปอร์ไฮโดรโฟบิก

โดย SIC คือการฉายรังสี UV หลอด 100 W ( Xu เจียงจิง ) และความเข้มแสง
100 W ปรอทโคมไฟประมาณ 63 , 000 ลักซ์ (  9 mW / cm2 )