The compact factor can be calculate

The compact factor can be calculated from the following equation based on the Atomic Sensitivity Factor (ASF) method: where I is the peak area of the XPS test data fitting and S is the
sensitivity factor, which is related to the element and equipment used (in this instrument, STi = 1.1
and SCa

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ตัวกะทัดรัดสามารถคำนวณได้จากสมการต่อไปนี้ตามวิธีปัจจัยความไวอะตอม (ASF): ซึ่งเป็นพื้นที่สูงสุดของ XPS ทดสอบข้อมูล fitting และ S คือการ ปัจจัยความไว ซึ่งเกี่ยวข้องกับองค์ประกอบและอุปกรณ์ที่ใช้ (ในเครื่องมือนี้ STi = 1.1 และ SCa

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ปัจจัยที่มีขนาดกะทัดรัดสามารถคำนวณได้จากสมการต่อไปขึ้นอยู่กับอะตอมความไวปัจจัย (ASF) วิธีการ: ฉันเป็นพื้นที่จุดสูงสุดของการทดสอบ XPS ข้อมูล Fi ระบบและ S เป็น
ปัจจัยความไวที่เกี่ยวข้องกับองค์ประกอบและอุปกรณ์ที่ใช้ ( ในตราสารนี้ STi = 1.1
และ SCA

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ปัจจัยขนาดกะทัดรัด สามารถคำนวณได้จากสมการต่อไปนี้ขึ้นอยู่กับปัจจัยความไวของอะตอม ( ASF ) วิธีที่ฉันเป็นยอด พื้นที่ของ XPS ทดสอบตัดจึงเป็นข้อมูลปัจจัยความไวซึ่งเกี่ยวข้องกับองค์ประกอบและอุปกรณ์ที่ใช้ในเครื่องมือนี้สติ = 1.1และ แฟน