The Eddy Current C-Scan exposes dif

The Eddy Current C-Scan exposes different defects when applying specific frequencies and complex phase angles, CPA (Φ). The same image processing algorithm was applied to solar cells. In addition, a transparent conductive oxide for a solar cell or a TCO layer was measured to verify the availability of homogeneity characterization in terms of sheet resistance.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

วนปัจจุบัน C-Scan exposes ข้อบกพร่องที่แตกต่างกันเมื่อใช้ความถี่ที่เฉพาะเจาะจงและมุมเฟสที่ซับซ้อน CPA (Φ) ขั้นตอนวิธีการประมวลผลภาพเดียวกันถูกนำไปใช้เซลล์แสงอาทิตย์ นอกจากนี้ยังมีกระแสไฟฟ้าออกไซด์โปร่งใสสำหรับเซลล์แสงอาทิตย์หรือชั้น TCO วัดเพื่อตรวจสอบความพร้อมของความเป็นเนื้อเดียวกันตัวละครในแง่ของแผ่นความต้านทาน

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กระแส C-การสแกนแบบไหลวนจะมีข้อบกพร่องที่แตกต่างกันเมื่อใช้ความถี่เฉพาะและมุมเฟสที่ซับซ้อน CPA (Φ) อัลกอริทึมการประมวลผลภาพเดียวกันถูกนำไปใช้กับเซลล์แสงอาทิตย์ นอกจากนี้ออกไซด์ที่นำไฟฟ้าโปร่งใสสำหรับเซลล์แสงอาทิตย์หรือชั้น TCO ถูกวัดเพื่อตรวจสอบความพร้อมของตัวอย่างที่เป็นเนื้อเดียวกันในแง่ของความต้านทานแผ่น

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

เอ็ดดี้ซีสแกนพบข้อบกพร่องที่แตกต่างกันเมื่อใช้เฉพาะความถี่และมุมเฟสที่ซับซ้อนของ CPA ขั้นตอนวิธีการประมวลผลภาพเดียวกันยังใช้กับเซลล์แสงอาทิตย์ นอกจากนี้โปร่งใสนำออกไซด์ที่ใช้ในเซลล์แสงอาทิตย์หรือ TCO ชั้นยังถูกวัดเพื่อตรวจสอบความสม่ำเสมอของความต้านทานแผ่น