microscope (JSM-6610, JOEL), and th

microscope (JSM-6610, JOEL), and the chemical compositions of the worn surface and the phase structure of debris were detected by the EDS (X-MAX50 INCA-250, OXFORD) and the X-ray diffractometer (X’Pert PRO, PANalytical), respectively.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

กล้องจุลทรรศน์ (JSM-6610 โจเอล), และองค์ประกอบทางเคมีของผิวเสื่อมสภาพและโครงสร้างระยะของเศษตรวจพบ โดยการ X-ray diffractometer (X'Pert PRO, PANalytical), และ EDS (X-MAX50 อินคา-250, OXFORD) ตามลำดับ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กล้องจุลทรรศน์ (JSM-6610 โจเอล) และองค์ประกอบทางเคมีของพื้นผิวที่สึกหรอและโครงสร้างขั้นตอนของเศษซากที่ถูกตรวจพบโดย EDS (X-MAX50 โบราณส​​ถาน-250 ฟอร์ด) และ diffractometer X-ray (X'Pert PRO, PANalytical) ตามลำดับ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

กล้องจุลทรรศน์ ( jsm-6610 โจเอล ) และองค์ประกอบทางเคมีของพื้นผิวและโครงสร้างของสวมใส่ระยะเศษถูกตรวจพบโดย EDS ( x-max50 inca-250 อ๊อกซฟอร์ด ) และเอกซเรย์ดิฟแฟรกโทมิเตอร์ ( x"pert Pro , panalytical ) ตามลำดับ