where i-th element in k-th column c

where i-th element in k-th column contains knowledge about the magnitude impacts of
dielectric constant changes in i-th pixels of tomographic image on the changes in k-th capacitance
measurement

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ซึ่งองค์ประกอบ i th ในคอลัมน์ k th ประกอบด้วยความรู้เกี่ยวกับผลกระทบต่อขนาดของการเปลี่ยนแปลงคงเป็นฉนวนใน i-th พิกเซลของภาพ tomographic บนการเปลี่ยนแปลงในความจุ k thวัด

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

I-TH องค์ประกอบในคอลัมน์ K-TH มีความรู้เกี่ยวกับผลกระทบที่สำคัญของการ
เปลี่ยนแปลงอย่างต่อเนื่องอิเล็กทริกพิกเซล I-TH ของภาพตัดขวางเกี่ยวกับการเปลี่ยนแปลงใน K-TH ความจุ
วัด

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ที่ i-th องค์ประกอบในคอลัมน์ k-th ประกอบด้วยความรู้เกี่ยวกับขนาดของผลกระทบของไดอิเล็กทริกการเปลี่ยนแปลงคงที่ใน i-th พิกเซลของภาพ tomographic บนการเปลี่ยนแปลงใน k-th ความจุการวัด