X-ray diffractograms were obtained

X-ray diffractograms were obtained with an X-ray diffractometer

(D8 Discover,Bruker Co.) under operating conditions as follows: the X-ray generator was run at 40 kV and 40 mA,

and the scanning angle 2 h was set from 4 to 45 at a scanning rate of
0.1 /min.


Crystallinity (%) was defined as the percentage ratio of diffraction peak area to total diffraction area.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

diffractograms x-ray ได้รับด้วย x-ray diffractometer

(d8 ค้นพบ Bruker ร่วม.) ภายใต้เงื่อนไขที่การดำเนินงานดังต่อไปนี้กำเนิด x-ray ได้รับการทำงานที่ 40 กิโลโวลต์และ 40 ma,

และสแกนมุม 2 ชั่วโมง ถูกกำหนด 4-45 ในอัตราการสแกนของ
0.1 / นาที


ผลึก (%) ถูกกำหนดเป็นอัตราส่วนร้อยละของพื้นที่ยอดเลนส์เลนส์ไปยังพื้นที่รวม

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

Diffractograms เอ็กซ์เรย์ได้รับ ด้วยการเอ็กซ์เรย์ diffractometer

(D8 ค้นพบ Bruker Co.) ภายใต้เงื่อนไขปฏิบัติดังนี้: เครื่องกำเนิดเอ็กซ์เรย์รันที่ 40 kV และ 40 mA,

และมุมแกน 2 h ถูกกำหนดจาก 4 45 อัตราการสแกนของ
0.1 /min.


Crystallinity (%) ถูก defined เป็นอัตราส่วนเปอร์เซ็นต์ของยอดการเลี้ยวเบนการเลี้ยวเบนรวมพื้นที่

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

diffractograms X - ray ได้พร้อมด้วย diffractometer X - ray

( Co ., D 8 สำรวจ bruker ) ภายใต้ เงื่อนไขการทำงานดังนี้:ผู้สร้าง X - ray ที่ถูกใช้งานที่ 4040 mA และ kV

และ 2 ชั่วโมงมุมการสแกนที่ได้รับการตั้งค่าจาก 4 เป็น 45 ในอัตราการสแกนของ
0.1 /นาที


crystallinity (%)เป็น defined เป็นสัดส่วนเปอร์เซ็นต์ของพื้นที่ Peak พร่าเลือนของพื้นที่พร่าเลือนของทั้งหมด