before being increased by 20 C min–

before being increased by 20 C min–1 to
280 C, where it was maintained for 1 min. The interface and the
ion source temperatures were 250 C and 230 C, respectively. Ions
were generated using a 70 V electron impact, and ion fragments
were detected in the selected ion monitoring mode.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ก่อนการเพิ่มขึ้น 20 C นาที – 1 การC 280 การที่มันถูกเก็บรักษาไว้ 1 นาที อินเทอร์เฟซและอุณหภูมิแหล่งไอออนถูก 250 C และ 230 C ตามลำดับ ไอออนสร้างขึ้นโดยใช้ 70 V อิเล็กตรอนกระทบ และบางส่วนของไอออนพบในไอออนเลือกที่โหมดตรวจสอบ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ก่อนที่จะถูกเพิ่มขึ้น 20 C นาทีที่จะ 1
280 C ซึ่งจะถูกเก็บรักษาไว้เป็นเวลา 1 นาที อินเตอร์เฟซและ
แหล่งกำเนิดไอออนอุณหภูมิ 250 C และ 230 C ตามลำดับ ไอออน
ที่ถูกสร้างขึ้นโดยใช้ผลกระทบอิเล็กตรอน 70 V และเศษไอออน
ถูกตรวจพบในโหมดการตรวจสอบไอออนที่เลือก

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ก่อนที่จะถูกเพิ่มขึ้น 20 C มิน– 1 .280 องศาเซลเซียส ซึ่งมันถูกเก็บรักษาไว้ 1 นาที การเชื่อมต่อและแหล่งกำเนิดไอออนเป็น 250 องศาเซลเซียส และอุณหภูมิ 230 องศาเซลเซียส ตามลำดับ ไอออนถูกสร้างขึ้นโดยใช้ 70 V และการกระจายตัวของไอออนอิเล็กตรอนกระทบถูกตรวจพบในการตรวจสอบไอออนเลือกโหมด