shows the strain of the RP and the

shows the strain of the RP and the Celgard membranes kept
at 90 ◦C for over 60 min. Following the increase of the temperature
to 90 ◦C, the strain of the RP membrane in both directions exhibits a low rate of shrinkage of −0.26% (Fig. 3a) and −0.25% (Fig. 3b),
respectively. The Celgard membrane shows an opposite behavior
in two perpendicular directions in that it shrinks by −1.55% in one
direction (Fig. 3c) and expands first by 0.59% and then shrinks in
the other direction (Fig. 3d). After the temperature reaches 90 ◦C
and keeps unchanged, the dimension change of the RP membrane
in both directions is almost ignorable, being −0.003% and −0.03%,
respectively (Fig. 3a and b). To the contrary, the strain of the Celgard
membrane in both directions has a sustained shrinkage of
−0.5% after 270 min (Fig. 3c) and −0.6% after 300 min (Fig. 3d). Such
shrinkagemay lead to the direct contact ofthe positive and negative
electrodes and thus poses a safety issue of a battery

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

แสดงสายพันธุ์ของ RP สาร Celgard เก็บไว้ที่ ◦C 90 สำหรับกว่า 60 นาที ต่อการเพิ่มขึ้นของอุณหภูมิการ 90 ◦C พันธุ์ของเมมเบรน RP ในทั้งสองทิศทางจัดแสดงอัตราต่ำของการหดตัวของ −0.26% (Fig. 3a) และ −0.25% (Fig. 3b),ตามลำดับ เมมเบรน Celgard แสดงลักษณะการทำงานตรงกันข้ามในทิศทางตั้งฉากทั้งสองที่ จะลดขนาด −1.55% ในหนึ่งกินซี 3) ทิศทางขยายตัวแรกคือ 0.59% และลดขนาดแล้ว ในจะ (Fig. 3d) หลังจากอุณหภูมิถึง 90 ◦Cและจะเปลี่ยน แปลง การเปลี่ยนแปลงขนาดของเมมเบรน RPในทั้งสองทิศทางเป็น ignorable เกือบ −0.003% และ −0.03%ตามลำดับ (Fig. 3a และ b การตรงกันข้าม สายพันธุ์ของ Celgardเมมเบรนในทั้งสองทิศทางมีการหดตัว sustained ของ−0.5% หลัง 270 นาทีกินซี 3) และ −0.6% หลังจาก 300 นาที (Fig. 3d) ดังกล่าวshrinkagemay นำไปสู่การติดต่อโดยตรงในแง่บวก และลบสะอาดหุงต จึงโพสท่าออกของแบตเตอรี่

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

แสดงให้เห็นถึงสายพันธุ์ของ RP และเยื่อ Celgard
เก็บไว้ที่90 ◦Cมานานกว่า 60 นาที ตามการเพิ่มขึ้นของอุณหภูมิ
90 ◦Cความเครียดของเมมเบรน RP ในทั้งสองทิศทางการจัดแสดงนิทรรศการในอัตราที่ต่ำของการหดตัวของ -0.26% (รูปที่. 3a) และ -0.25% (รูปที่. 3b)
ตามลำดับ เมมเบรน Celgard
แสดงให้เห็นถึงพฤติกรรมตรงข้ามในสองทิศทางตั้งฉากในการที่จะลดลงจาก-1.55%
ในทิศทาง(รูป. 3c) และขยายเป็นครั้งแรกโดย 0.59%
และจากนั้นลดลงในทิศทางอื่นๆ (รูป. 3d) หลังจากที่อุณหภูมิถึง 90
◦Cและช่วยให้ไม่เปลี่ยนแปลงการเปลี่ยนแปลงขนาดของเมมเบรนRP
ที่ทั้งสองทิศทางคือignorable เกือบเป็น -0.003% และ -0.03%
ตามลำดับ (รูป. 3a และ b) ไปในทางตรงกันข้ามความเครียดของ Celgard
เมมเบรนในทั้งสองทิศทางมีการหดตัวอย่างยั่งยืนของ
-0.5% หลังจาก 270 นาที (รูป. 3c) และ -0.6% หลังจาก 300 นาที (รูป. 3d) ดังกล่าว
shrinkagemay นำไปสู่การติดต่อโดยตรง ofthe
บวกและลบขั้วไฟฟ้าจึงposes ปัญหาความปลอดภัยของแบตเตอรี่

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

แสดงความเครียดของ RP และ celgard membranes เก็บไว้
ที่ 90 ◦ C เป็นเวลากว่า 60 นาที ตามการเพิ่มขึ้นของอุณหภูมิ
90 ◦ C , ความเครียดของ RP เยื่อในทั้งสองทิศทาง แสดงถึงอัตราการหดตัวร้อยละ 0.26 ของ− ( รูปที่ 3 ) และ− 0.25% ( รูปที่ 3B )
ตามลำดับ การ celgard เยื่อแผ่นแสดงพฤติกรรมตรงข้าม
2 ทิศทางที่ตั้งฉากที่มันจะหดลงด้วย− 1.55 % ใน 1
ทิศทาง ( รูปที่ 3 ) และขยายเป็นครั้งแรกโดย 0.59 % และหดตัวในทิศทางอื่น ๆ
( รูปที่ 3 ) หลังจากอุณหภูมิถึง 90 ◦ C
และยังคงไม่เปลี่ยนแปลง มิติการเปลี่ยนแปลงของ RP เยื่อ
ในทั้งสองทิศทาง คือเกือบ ignorable , − 1 , − 0.03 %
ตามลำดับ ( รูปที่ 3A และ B ) ตรงกันข้าม ความเครียดของ celgard
เยื่อในทั้งสองทิศทางมี sustained การหดตัวของ
− 05 % หลังจากที่ 270 นาที ( รูปที่ 3 ) และ− 0.6% หลังจาก 300 นาที ( รูปที่ 3 ) เช่น
shrinkagemay รอคอยการติดต่อโดยตรงของขั้วไฟฟ้าบวกและลบ ซึ่งท่าน

เรื่องความปลอดภัยของแบตเตอรี่