A measurement of the reflection fro

A measurement of the reflection from and/or transmission through a material along with knowledge of its physical dimensions provides the information to characterize the permittivity and permeability of the material. Vector network analyzers such as the PNA family, ENA series and FieldFox make swept high frequency stimulus-response measurements from 9 kHz to 1.1 THz. (Figure 12). A vector network analyzer consists of a signal source, a receiver and a display (Figure 11). The source launches a signal at a single frequency to the material under test. The receiver is tuned to that frequency to detect the reflected and transmitted signals from the material. The measured response produces the magnitude and phase data at that frequency. The source is then stepped to the next frequency and the measurement is repeated to display the reflection and transmission measurement response as a function of frequency. More information on the network analyzer functioning and architecture is available in the application notes 1287-12 and 1287-23.
Simple components and connecting wires that perform well at low frequencies behave differently at high frequencies. At microwave frequencies wavelengths become small compared to the physical dimensions of the devices such that two closely spaced points can have a significant phase difference. Low frequency lumped-circuit element techniques must be replaced by transmission line theory to analyze the behavior of devices at higher frequencies. Additional high frequency effects such as radiation loss, dielectric loss and capacitive coupling make microwave circuits more complex and expensive. It is time consuming and costly to try to design a perfect microwave network analyzer.
Instead, a measurement calibration is used to eliminate the systematic (stable and repeatable) measurement errors caused by the imperfections of the system. Random errors due to noise, drift, or the environment (temperature, humidity, pressure) cannot be removed with a measurement calibration. This makes a microwave measurement susceptible to errors from small changes in the measurement system. These errors can be minimized by adopting good measurement practices, such as visually inspecting all connectors for dirt or damage and by minimizing any physical movement of the test port cables after a calibration. More information on the network analyzer calibration is available in the Application Note 1287-34.
Measurement System
Figure 11. Network analyzer
Receiver/detector
Processor/displayReflected(A)(B)Incident(R)SignalseparationSourceIncidentReflectedTransmittedTransmittedMUTFixture

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

วัดจากการสะท้อนหรือส่งผ่านวัสดุพร้อมด้วยความรู้ของมิติทางกายภาพให้ข้อมูลการอธิบายลักษณะ permittivity และซึมผ่านของวัสดุ เวกเตอร์วิเคราะห์เครือข่ายเช่นครอบครัว PNA ชุดเอนะ และ FieldFox ทำให้กวาดความถี่สูงตอบสนองกระตุ้นเศรษฐกิจวัดจาก 9 kHz ถึง 1.1 THz (12 รูป) การวิเคราะห์เครือข่ายเวกเตอร์ประกอบด้วยแหล่งสัญญาณ เครื่องรับสัญญาณ และแสดงผล (รูปที่ 11) แหล่งที่มาเปิดตัวสัญญาณที่ความถี่เดียววัสดุภายใต้การทดสอบ ตัวรับสัญญาณจะปรับไปที่ความถี่ในการตรวจสอบสัญญาณสะท้อน และส่งวัสดุ การตอบสนองที่วัดสร้างข้อมูลขนาดและเฟสที่ความถี่ที่ แหล่งที่มาแล้วก้าวเข้าความถี่ถัดไป และการประเมินซ้ำเพื่อแสดงการตอบสนองการวัดการสะท้อนและการส่งเป็นฟังก์ชันของความถี่ ข้อมูลเพิ่มเติมเกี่ยวกับการทำงานวิเคราะห์เครือข่ายและสถาปัตยกรรมมีการใช้งาน 1287 12 และ 1287-23Simple components and connecting wires that perform well at low frequencies behave differently at high frequencies. At microwave frequencies wavelengths become small compared to the physical dimensions of the devices such that two closely spaced points can have a significant phase difference. Low frequency lumped-circuit element techniques must be replaced by transmission line theory to analyze the behavior of devices at higher frequencies. Additional high frequency effects such as radiation loss, dielectric loss and capacitive coupling make microwave circuits more complex and expensive. It is time consuming and costly to try to design a perfect microwave network analyzer.Instead, a measurement calibration is used to eliminate the systematic (stable and repeatable) measurement errors caused by the imperfections of the system. Random errors due to noise, drift, or the environment (temperature, humidity, pressure) cannot be removed with a measurement calibration. This makes a microwave measurement susceptible to errors from small changes in the measurement system. These errors can be minimized by adopting good measurement practices, such as visually inspecting all connectors for dirt or damage and by minimizing any physical movement of the test port cables after a calibration. More information on the network analyzer calibration is available in the Application Note 1287-34.Measurement SystemFigure 11. Network analyzerReceiver/detectorProcessor/displayReflected(A)(B)Incident(R)SignalseparationSourceIncidentReflectedTransmittedTransmittedMUTFixture

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

การวัดการสะท้อนจากและ / หรือการส่งผ่านวัสดุพร้อมกับความรู้ในมิติทางกายภาพของมันให้ข้อมูลลักษณะการ permittivity และการซึมผ่านของวัสดุ วิเคราะห์เครือข่ายเวกเตอร์เช่นครอบครัว PNA ชุด ENA และ FieldFox ทำให้กวาดความถี่สูงวัดกระตุ้นการตอบสนองจาก 9 kHz ถึง 1.1 THz (รูปที่ 12) วิเคราะห์เวกเตอร์เครือข่ายประกอบด้วยแหล่งกำเนิดสัญญาณรับและแสดง (รูปที่ 11) แหล่งที่มาเปิดตัวสัญญาณที่ความถี่เดียวกับวัสดุภายใต้การทดสอบ ตัวรับสัญญาณที่ปรับความถี่ในการตรวจสอบสัญญาณสะท้อนและส่งจากวัสดุ การตอบสนองที่วัดผลิตขนาดและเฟสข้อมูลที่ความถี่ที่ แหล่งที่มาแล้วก้าวต่อไปกับความถี่และวัดจะถูกทำซ้ำเพื่อแสดงการสะท้อนและการส่งผ่านการตอบสนองการวัดเป็นหน้าที่ของความถี่ ข้อมูลเพิ่มเติมเกี่ยวกับการทำงานของเครือข่ายวิเคราะห์และสถาปัตยกรรมที่มีอยู่ในบันทึกของโปรแกรมประยุกต์ 1287-1212 และ 1287-1223.
ส่วนประกอบที่เรียบง่ายและสายเชื่อมต่อที่มีประสิทธิภาพดีที่ความถี่ต่ำทำงานแตกต่างกันที่ความถี่สูง ในไมโครเวฟความถี่ความยาวคลื่นกลายเป็นขนาดเล็กเมื่อเทียบกับมิติทางกายภาพของอุปกรณ์ดังกล่าวที่สองจุดเว้นระยะอย่างใกล้ชิดจะมีความแตกต่างอย่างมีนัยสำคัญเฟส ความถี่ต่ำล้างโลกวงจรเทคนิคองค์ประกอบจะต้องถูกแทนที่ด้วยทฤษฎีสายส่งในการวิเคราะห์พฤติกรรมของอุปกรณ์ที่ความถี่สูง ผลกระทบที่มีความถี่สูงเพิ่มเติมเช่นการสูญเสียการฉายรังสี, การสูญเสียอิเล็กทริกและ capacitive coupling ทำให้วงจรไมโครเวฟที่ซับซ้อนมากขึ้นและมีราคาแพง มันจะเสียเวลาและค่าใช้จ่ายในการพยายามที่จะออกแบบวิเคราะห์เครือข่ายไมโครเวฟที่สมบูรณ์แบบ.
แทนการสอบเทียบวัดที่จะใช้ในการกำจัดระบบ (มีเสถียรภาพและทำซ้ำ) วัดข้อผิดพลาดที่เกิดจากความไม่สมบูรณ์ของระบบ ข้อผิดพลาดที่เกิดจากการสุ่มเสียงลอยหรือสิ่งแวดล้อม (อุณหภูมิความชื้นความดัน) ไม่สามารถลบออกได้ด้วยการสอบเทียบวัด นี้จะทำให้การวัดไมโครเวฟความเสี่ยงที่จะเกิดข้อผิดพลาดจากการเปลี่ยนแปลงเล็ก ๆ ในระบบการวัด ข้อผิดพลาดเหล่านี้สามารถลดลงโดยการใช้วิธีการวัดที่ดีเช่นสายตาตรวจสอบการเชื่อมต่อทั้งหมดของสิ่งสกปรกหรือความเสียหายและโดยการลดการเคลื่อนไหวใด ๆ ทางกายภาพของสายเคเบิลพอร์ตการทดสอบหลังจากการสอบเทียบ ข้อมูลเพิ่มเติมเกี่ยวกับการสอบเทียบวิเคราะห์เครือข่ายที่มีอยู่ในแอพลิเคชันหมายเหตุ 1287-1234.
ระบบการวัด
รูปที่ 11 เครือข่ายวิเคราะห์
Receiver / อุปกรณ์ตรวจจับ
ประมวลผล / displayReflected (A) (B) เหตุการณ์ (R) SignalseparationSourceIncidentReflectedTransmittedTransmittedMUTFixture

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การวัดแสงสะท้อนจากและ / หรือการส่งผ่านวัสดุพร้อมกับความรู้ในมิติทางกายภาพของมันมีข้อมูลเพื่อวิเคราะห์ค่าความซาบซึมและการซึมผ่านของวัสดุ เวกเตอร์เครือข่ายวิเคราะห์เช่นครอบครัว PNA , ชุดและให้กวาดวัดการตอบสนอง fieldfox ENA กระตุ้นความถี่สูงจาก 9 kHz ถึง 1.1 thz . ( รูปที่ 12 ) วิเคราะห์เครือข่ายเวกเตอร์ประกอบด้วยแหล่งสัญญาณรับสัญญาณและแสดงผล ( รูปที่ 11 ) แหล่งที่มาเปิดสัญญาณที่ความถี่เดียววัสดุภายใต้การทดสอบ รับจูนไปที่ความถี่การตรวจสอบสะท้อนและถ่ายทอดสัญญาณจากวัสดุ การวัดขนาดและการสร้างข้อมูลเฟสที่ความถี่ แหล่งที่มา แล้วก้าวไปที่ความถี่ถัดไปและวัดซ้ำเพื่อแสดงการสะท้อนและการตอบสนองการวัดการส่งผ่านที่เป็นฟังก์ชันของความถี่ ข้อมูลเพิ่มเติมเกี่ยวกับเครือข่ายและวิเคราะห์การทำงานสถาปัตยกรรมที่มีอยู่ในโปรแกรมบันทึกและ 1287-12 1287-23 .องค์ประกอบที่เรียบง่ายและการเชื่อมต่อสายที่แสดงได้ดีที่ความถี่ต่ำงานต่างกันที่ความถี่สูง ที่ความถี่ความยาวคลื่นไมโครเวฟ กลายเป็นเรื่องเล็กเมื่อเทียบกับขนาดทางกายภาพของอุปกรณ์เช่นสองอย่างใกล้ชิดระยะจุดสามารถมีขั้นตอนที่แตกต่างกัน ความถี่ต่ำก้อนเทคนิคองค์ประกอบวงจรจะต้องถูกแทนที่ด้วยสายส่งทฤษฎีเพื่อวิเคราะห์พฤติกรรมของอุปกรณ์ที่ความถี่สูง ผลความถี่สูงเพิ่มเติมเช่นการแพ้รังสี การสูญเสียไดอิเล็กทริกและตัวเก็บประจุ coupling ทำให้วงจรไมโครเวฟที่ซับซ้อนมากขึ้นและมีราคาแพง มันจะเสียเวลาและค่าใช้จ่ายเพื่อการออกแบบที่สมบูรณ์แบบไมโครเวฟเครือข่ายวิเคราะห์แทนการวัดการใช้เพื่อขจัดระบบที่มั่นคงและทำซ้ำ ) การวัดความคลาดเคลื่อนที่เกิดจากความไม่สมบูรณ์ของระบบ ความคลาดเคลื่อนเนื่องจากเสียงลอย หรือสภาพแวดล้อม ( อุณหภูมิ , ความชื้น , ความดัน ) ไม่สามารถลบออกได้ด้วยการวัดในการสอบเทียบ นี้จะทำให้การวัดไมโครเวฟไวต่อข้อผิดพลาดจากการเปลี่ยนแปลงเล็ก ๆในระบบของการวัด ข้อผิดพลาดเหล่านี้สามารถทำได้โดยการใช้แนวทางการวัดที่ดี เช่น การตรวจสอบทั้งหมดที่ขั้วต่อสกปรกหรือเกิดความเสียหายและลดการเคลื่อนไหวทางกายภาพของการทดสอบพอร์ตสายหลังปรับแต่ง ข้อมูลเพิ่มเติมเกี่ยวกับเครื่องวิเคราะห์เครือข่ายการสอบเทียบสามารถใช้ได้ในโปรแกรมหมายเหตุ 1287-34 .ระบบการวัดรูปที่ 11 วิเคราะห์เครือข่ายรับ / เครื่องตรวจจับโปรเซสเซอร์ / displayreflected ( ก ) ( ข ) เหตุการณ์ ( R ) signalseparationsourceincidentreflectedtransmittedtransmittedmutfixture