Many research results have been reported for SIC devices and GaN devices. On-resistance of the MOS gated devices is expressed roughly by summation of MOS gate channel resistance and active layer resistance
ผลการวิจัยจำนวนมากได้รับการรายงานสำหรับอุปกรณ์ SIC และอุปกรณ์กาน เกี่ยวกับความต้านทานของอุปกรณ์รั้วรอบขอบชิด MOS จะ แสดงโดยประมาณผลรวมของช่องประตู MOS ต้านทานและความต้านทานต่อชั้นที่ใช้งาน