Tapping-mode atomicforce microscopy

Tapping-mode atomicforce microscopy (AFM) observations (not reported here) showedthat such procedure allows to effectively removing all organic and particulate contaminants from the substrate surface

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

แตะโหมด atomicforce กล้องจุลทรรศน์ (AFM) สังเกต (ไม่มีรายงานที่นี่) showedthat ขั้นตอนดังกล่าวช่วยให้สามารถเอาสิ่งปนเปื้อนอินทรีย์ และอนุภาคทั้งหมดจากพื้นผิวพื้นผิวได้อย่างมีประสิทธิภาพ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

แตะโหมด atomicforce กล้องจุลทรรศน์ (AFM) การสังเกต (ไม่ได้รายงานที่นี่) พบว่าสามารถยับยั้งการตามขั้นตอนดังกล่าวจะช่วยให้การได้อย่างมีประสิทธิภาพเอาสารปนเปื้อนอินทรีย์และฝุ่นละอองจากพื้นผิว