Comparison between EDXRF and WDXRFT

Comparison between EDXRF and WDXRF

The principal difference between ED and WDXRF techniques lies in the achievable energy (spectral) resolution. WDXRF systems can routinely provide working resolutions between 5 eV and 20 eV, depending on their set up, whereas EDXRF systems typically provide resolutions ranging from 150 eV to 300 eV or more, depending on the type of detector used.

The higher resolution of WDXRF provides advantages in reduced spectral overlaps, so that complex samples can be more accurately characterized. In addition, with high resolution backgrounds are reduced, providing improved detection limits and sensitivity.

However, the additional optical components of a WDXRF system (eg, diffracting crystal and collimators) means that it suffers from greatly reduced efficiency. Typically this is compensated for by high powered X-Ray sources, which can have a significant impact on cost and ease of use. The additional optical components of WDXRF also effect the cost, and make for a relatively expensive instrument.

The final difference lies in spectral acquisition. With an EDXRF system such as one of the XGT systems an entire spectrum is acquired virtually simultaneously, so that elements from across most of the periodic table can be detected within a few seconds. With WDXRF spectrum acquisition is either made in a point by point fashion (which is extremely time consuming), or else has a very limited number of simultaneous detectors (which is an expensive option).

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

เปรียบเทียบระหว่าง EDXRF และ WDXRF แตกต่างที่สำคัญระหว่าง ED และเทคนิค WDXRF อยู่ในพลังงานที่ประสบความสำเร็จ (เงา) ความละเอียด ระบบ WDXRF ประจำสามารถให้ความละเอียดในการทำงานระหว่างวันที่ 5 eV และ 20 eV ขึ้นอยู่กับการตั้งค่าของพวกเขาในขณะที่ระบบ EDXRF มักจะให้ความละเอียดตั้งแต่ 150 eV 300 eV หรือมากกว่าขึ้นอยู่กับชนิดของเครื่องตรวจจับที่ใช้. ความละเอียดที่สูงขึ้นของ WDXRF ให้ ข้อได้เปรียบในการทับซ้อนลดสเปกตรัมเพื่อให้สารตัวอย่างที่ซับซ้อนสามารถโดดเด่นขึ้นอย่างถูกต้อง นอกจากนี้ยังมีภูมิหลังที่มีความละเอียดสูงจะลดลงให้ข้อ จำกัด การตรวจสอบที่ดีขึ้นและความไว. อย่างไรก็ตามองค์ประกอบแสงที่เพิ่มขึ้นของระบบ WDXRF (เช่น diffracting คริสตัลและ Collimators) หมายความว่ามันทนทุกข์ทรมานจากประสิทธิภาพลดลงอย่างมาก ซึ่งโดยปกติจะถูกชดเชยด้วยการขับเคลื่อนสูงแหล่งที่มาของ X-Ray ซึ่งจะมีผลกระทบต่อค่าใช้จ่ายและความสะดวกในการใช้งาน ส่วนประกอบออปติคอลที่เพิ่มขึ้นของ WDXRF ยังมีผลกระทบต่อค่าใช้จ่ายและทำให้เครื่องดนตรีราคาแพง. ความแตกต่างที่อยู่ในขั้นสุดท้ายในการซื้อกิจการสเปกตรัม ด้วยระบบ EDXRF เช่นหนึ่งในระบบ XGT คลื่นความถี่ทั้งหมดที่ได้มาจริงพร้อมกันเพื่อให้องค์ประกอบจากทั่วประเทศส่วนใหญ่ของตารางธาตุสามารถตรวจพบได้ภายในไม่กี่วินาที ด้วยการซื้อกิจการสเปกตรัม WDXRF จะทำอย่างใดอย่างหนึ่งในจุดโดยจุดแฟชั่น (ซึ่งจะใช้เวลานานมาก) หรืออื่น ๆ ที่มีจำนวน จำกัด มากของเครื่องตรวจจับพร้อมกัน (ซึ่งเป็นตัวเลือกที่แพง)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การเปรียบเทียบระหว่าง EDXRF wdxrf

และข้อแตกต่างระหว่างเอ็ดและ wdxrf เทคนิคอยู่ในพลังงานได้ ( spectral ) ความละเอียด wdxrf ระบบสามารถตรวจให้ละเอียดการทำงานระหว่าง 5 และ 20 EV EV , ขึ้นอยู่กับการตั้งค่า ในขณะที่ระบบ EDXRF มักจะให้ความละเอียดตั้งแต่ 150 ถึง 300 EV EV หรือมากกว่า ขึ้นอยู่กับชนิดของเครื่องที่ใช้

สูงความละเอียดของ wdxrf มีข้อดีในการลดพื้นที่ทับซ้อน ดังนั้นตัวอย่างที่ซับซ้อนสามารถเพิ่มเติมได้อย่างถูกต้องเพียง นอกจากนี้ ความละเอียดสูง พื้นหลังจะลดลง ให้ปรับปรุงการตรวจสอบขอบเขตและความไว

แต่แสงส่วนประกอบเพิ่มเติมของระบบ wdxrf ( เช่นdiffracting คริสตัลและบังคับลำ ) หมายความว่ามันทนทุกข์ทรมานจากประสิทธิภาพลดลงอย่างมาก โดยทั่วไปนี้จะชดเชยโดยแหล่งรังสีเอกซ์พลังงานสูงซึ่งจะมีผลกระทบต่อต้นทุนและความสะดวกในการใช้ แสงองค์ประกอบเพิ่มเติมของ wdxrf ยังมีผลต่อต้นทุน และให้เครื่องมือราคาแพง

ความแตกต่างสุดท้าย อยู่ในการครอบครองสเปกตรัม .ด้วยระบบ EDXRF เช่นหนึ่งใน xgt ระบบสเปกตรัมทั้งหมดได้มาแทบพร้อมกัน เพื่อให้องค์ประกอบจากข้ามมากที่สุดของตารางธาตุที่สามารถตรวจพบได้ภายในไม่กี่วินาที ด้วยการเป็น wdxrf สเปกตรัมเหมือนกันในจุดโดยจุดแฟชั่น ( ซึ่งเป็นเวลาแสนนาน )หรืออื่น ๆ มีจำนวน จำกัด มากของเครื่องพร้อมกัน ( ซึ่งเป็นทางเลือกที่แพง ) .