The investigation of X-ray diffract

The investigation of X-ray diffraction (XRD) has been studied of the copper (Cu) thin films with different parameter like the distances and pressures.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

มีการศึกษาการตรวจสอบเอ็กซ์เรย์การเลี้ยวเบน (XRD) ทองแดง (Cu) บางฉายภาพยนตร์ด้วยพารามิเตอร์ต่าง ๆ เช่นระยะทางและความดัน

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

การสอบสวนของ X-ray diffraction (XRD) ได้รับการศึกษาของทองแดง (Cu) ฟิล์มบางที่มีพารามิเตอร์ที่แตกต่างกันเช่นระยะทางและแรงกดดัน

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การศึกษาการเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์ ) ได้ศึกษาเรื่อง ทองแดง ( Cu ) ฟิล์มบางด้วยที่แตกต่างกันพารามิเตอร์เช่นระยะทางและความดัน