• Excessive Resources: Availability

• Excessive Resources: Availability of equipment such as focused-ion beam and scanning electron microscope

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

•ทรัพยากรมากเกินไป: ความพร้อมของอุปกรณ์เช่นไอออนเน้นแสงและกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

•ทรัพยากรมากเกินไป: ความพร้อมของอุปกรณ์เช่นคานมุ่งเน้นไอออนและการสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

- ทรัพยากรมากเกินไป : ความพร้อมของอุปกรณ์ เช่น โฟกัสไอออนบีม และกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน