The determination of moisture (M),

The determination of moisture (M), volatile matter (VM), and ash content was conducted according to a modified ASTM
method D1762-84 [30]. The changes in the surface morphology of adsorbent samples were determined by analyzing their
respective SEM images, which were obtained using a scanning electron microscope (SEM) model JEOL JSM-6390LV (Japan).
The surface chemistry of the adsorbent surfaces was analyzed by an FTIR (PerkinElmer Model 2000, USA). The FTIR spectra
measurements were carried out over 4000-400 cm-1 using the KBr method. The surface areas of samples were determined by
using nitrogen adsorption/desorption method measured at 77K using a surface analyzer (NOVA-2000e; Quantachrome Corp.,
Boyton Beach, FL, USA). The CP or char was degassed for about 9 hours under vacuum at 393 K prior to conducting adsorption
measurements. The surface area was calculated using the BET methods, and the pore volumes were taken at P/Po = 0.99.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ดำเนินการตามมาตรฐาน ASTM การแก้ไขวิเคราะห์ปริมาณความชื้น (M), ระเหย (VM), และปริมาณเถ้าวิธี D1762-84 [30] การเปลี่ยนแปลงสัณฐานผิว adsorbent ตัวอย่างกำหนด โดยการวิเคราะห์ของพวกเขาภาพ SEM เกี่ยวข้อง ซึ่งได้รับโดยใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM) รุ่น JEOL JSM-6390LV (ญี่ปุ่น) เคมีพื้นผิวพื้นผิว adsorbent ถูกวิเคราะห์ โดยการ FTIR (PerkinElmer รุ่น 2000 สหรัฐอเมริกา) สเปกตรัม FTIR การประเมินดำเนินการกว่า 4000-400 cm-KBr วิธีใช้ 1 พื้นที่ผิวของตัวอย่างที่ดำเนินการโดย วัดโดยใช้วิธีการดูดซับ/คายออกไนโตรเจนที่ 77K ใช้เครื่องวิเคราะห์พื้นผิว (โนวา-2000e Quantachrome Corp. Boyton หาด FL สหรัฐอเมริกา) CP หรืออักขระที่ไม่ถูก degassed ภายใต้สุญญากาศที่ 393 K ประมาณ 9 ชั่วโมงก่อนทำการดูดซับ วิธีการวัด พื้นที่การคำนวณโดยใช้วิธีการวางเดิมพัน และปริมาณรูพรุนถ่าย P/Po = 0.99

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ความมุ่งมั่นของความชื้น (M), สารระเหย (VM) และปริมาณเถ้าได้ดำเนินการตามมาตรฐาน ASTM ปรับเปลี่ยน
วิธีการ D1762-84 [30] การเปลี่ยนแปลงในลักษณะพื้นผิวของตัวอย่างดูดซับได้รับการพิจารณาโดยการวิเคราะห์ของพวกเขา
ภาพ SEM ตามลำดับซึ่งได้ใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM) รุ่น JEOL JSM-6390LV (ญี่ปุ่น).
เคมีพื้นผิวของพื้นผิวตัวดูดซับได้รับการวิเคราะห์โดย FTIR (PerkinElmer รุ่น 2000, สหรัฐอเมริกา) FTIR สเปกตรัม
วัดได้ดำเนินการออกไป 4000-400 CM-1 โดยใช้วิธี KBr พื้นที่พื้นผิวของตัวอย่างที่ถูกกำหนดโดย
ใช้ไนโตรเจนดูดซับวิธีการ / คายวัดที่ 77K ใช้ตัววิเคราะห์พื้นผิว (NOVA-2000e; Quantachrome คอร์ป
Boyton Beach, ฟลอริดา, สหรัฐอเมริกา) ซีพีหรือถ่านถูกกำจัดก๊าซประมาณ 9 ชั่วโมงภายใต้สูญญากาศที่ 393 K ก่อนที่จะมีการดำเนินการดูดซับ
วัด พื้นที่ผิวที่คำนวณโดยใช้วิธีการเดิมพันและปริมาณรูขุมขนที่ถูกนำมาที่ P / Po = 0.99

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การหาปริมาณความชื้น ( M ) , สารระเหย ( VM ) และปริมาณเถ้าดำเนินการตามแบบมาตรฐานวิธี d1762-84 [ 30 ] การเปลี่ยนแปลงในลักษณะพื้นผิวของตัวอย่างที่ถูกกำหนดโดยการวิเคราะห์ของตัวดูดซับตามด้วยภาพ ซึ่งได้มาโดยใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) รุ่น Jeol jsm-6390lv ( ญี่ปุ่น )ผิวของตัวดูดซับเคมีพื้นผิวถูกวิเคราะห์โดย FTIR ( Perkinelmer รุ่น 2000 , USA ) โดย FTIR สเปกตรัมวัด พบว่าผ่าน 4000-400 cm-1 ใช้าวิธี พื้นที่ผิวของตัวอย่างการดูดซับและปลดปล่อยไนโตรเจนโดยใช้วิธีการวัดที่ 77k ใช้พื้นผิวที่วิเคราะห์ ( nova-2000e ; quantachrome คอร์ปboyton บีช , ฟลอริด้า , สหรัฐอเมริกา ) CP หรือถ่านชาร์ degassed ประมาณ 9 ชั่วโมงภายใต้สูญญากาศที่ 393 K ก่อนที่จะทำการดูดซับการวัด พื้นที่ผิวถูกคำนวณโดยใช้ เดิมพัน วิธีการ และปริมาณรูพรุน ถ่ายใน P / PO = 0.99 .