Membrane surface morphology was obs

Membrane surface morphology was observed by using Scanning Electron Microscope
(SEM) and the top layer was found to be about 30 lm thick

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

สัณฐานวิทยาผิวเมมเบรนถูกตรวจสอบ โดยใช้การสแกน Microscope
(SEM) อิเล็กตรอน และด้านบนพบได้ประมาณ 30 lm หนา

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ลักษณะพื้นผิวเมมเบรนเป็นที่สังเกตโดยใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน
(SEM) และชั้นบนพบว่ามีประมาณ 30 LM หนา

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

พื้นผิวเมมเบรนพบโดยใช้การสแกน
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน ( SEM ) และชั้นบนพบว่า 30 ผมหนา