3.3. Yield strengthThe yield stress

3.3. Yield strength
The yield stress extracted from the stress–strain curves of copper
nanofilms under shear deformation is illustrated in Fig. 5 as a function
of nanofilm thickness.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

3.3 ให้ความแข็งแรงความเครียดผลผลิตที่สกัดได้จากเส้นโค้งความเค้นความเครียดของทองแดงnanofilms ภายใต้แรงเฉือนแมพเป็นดังรูป 5 เป็นฟังก์ชันความหนา nanofilm

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

3.3 ผลผลิตแข็งแรง
ความเครียดผลผลิตสกัดจากเส้นโค้งความเครียดทองแดง
nanofilms ภายใต้การเปลี่ยนรูปเฉือนจะแสดงในรูปที่ 5 ฟังก์ชั่น
ของความหนาของ Nanofilm

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

3.3 . ครากผลผลิตที่ได้จากความเครียดความเครียดและความเครียดเส้นโค้งของทองแดงฟิล์มบางนาโนภายใต้แรงเฉือนแมพจะแสดงในรูปที่ 5 เป็นฟังก์ชันความหนาของนาโนฟิล์ม .