X-ray diffraction (XRD) was used fo

X-ray diffraction (XRD) was used for crystallinity studies and phase analysis. Upon milling, nanostructured particles were obtained with dimensions less than 100 nm.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

การเลี้ยวเบนรังสีเอ็กซ์ (XRD) ใช้สำหรับการศึกษาผลึกและการวิเคราะห์เฟส เมื่อกัด อนุภาค nanostructured ได้รับ มีขนาดน้อยกว่า 100 นาโนเมตร

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

X-ray การเลี้ยวเบน (XRD) ถูกนำมาใช้เพื่อการศึกษาผลึกและการวิเคราะห์ขั้นตอน เมื่อกัดอนุภาคอิเล็กทรอนิคส์ที่ได้รับมีขนาดน้อยกว่า 100 นาโนเมตร

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การเลี้ยวเบนของรังสีเอ็กซ์ที่ใช้ศึกษาความเป็นผลึกและการวิเคราะห์เฟส เมื่อกัด nanostructured ได้รับอนุภาคที่มีขนาดน้อยกว่า 100 นาโนเมตร