Fig. 4 represents a mechanical cros

Fig. 4 represents a mechanical cross-section through the effect
coating imaged by SEM. Here we get the side view of the particles in order to estimate the
thicknesses and more importantly the two-dimensional angular particle inclination with respect to
the surface normal. N() is close to a Gaussian with a standard deviation of less than 10°. Fig. 5a
depicts the SEM view of the marked coatings area (volume enclosed between both crosses under
the metal protection bar) to be analyzed by X-ray CT. The crosses are identified then in the X-ray
CT images as shown in fig. 5b (for X-ray CT principles see the scheme in fig. 6). The measured
and reconstructed ensemble of the effect particles in the volume is given in fig. 5. Along the line
between both crosses a TEM lamella was prepared using FIB technique. One of the cross-sections
is shown in fig. 8a as an X-ray CT section, in fig. 8b as a SEM – and in fig. 8c as a TEM – cross-
section image. There is not a full correspondence between the pictures due to the different depth of
analyzing, which is much bigger in X-ray CT than in TEM.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

Fig. 4 แทนระหว่างส่วนกลผ่านผลเคลือบที่ imaged โดย SEM. ที่นี่เราได้รับมุมมองด้านข้างของอนุภาคในการประเมินการความหนาและอื่น ๆ สำคัญ with ความเอียงอนุภาคสองแองกูลาร์เคารพผิวที่ปกติ N() เป็น Gaussian ที่มีค่าเบี่ยงเบนมาตรฐานของน้อยกว่า 10 องศา Fig. 5 aดู SEM ของพื้นที่เครื่องเคลือบ (อยู่ระหว่างทั้งสองต่างภายใต้ปริมาณที่แสดงให้เห็นแถบโลหะป้องกัน) จะวิเคราะห์ โดยการเอ็กซ์เรย์กะรัต ตัดที่ระบุแล้วในการเอ็กซ์เรย์ภาพ CT แสดงใน fig. 5b (สำหรับหลักการเอกซเรย์ CT ดูโครงร่าง 6 fig.) การวัดและวงดนตรีที่สร้างขึ้นใหม่ของอนุภาคผลในปริมาณจะกำหนดเป็น fig. 5 ตามแนวระหว่างตัดทั้ง lamella ยการถูกเตรียมโดยใช้เทคนิคตอแหล Cross-sections การอย่างใดอย่างหนึ่งมีแสดงใน fig. 8a เป็นส่วนการเอกซเรย์ CT, fig. 8b เป็น SEM – และ fig. 8 c เป็นยการ – ข้าม-ส่วนรูปภาพ ไม่ติดต่อเต็มภาพเนื่องจากความลึกแตกต่างกันวิเคราะห์ ซึ่งเป็นใหญ่ในเอกซเรย์ CT มากกว่าในยการ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

มะเดื่อ 4 แสดงให้เห็นถึงกลข้ามส่วนผลผ่าน
การเคลือบถ่ายภาพโดย SEM ที่นี่เราได้รับมุมมองด้านข้างของอนุภาคในการสั่งซื้อที่จะประเมิน
ความหนาและที่สำคัญกว่าความโน้มเอียงอนุภาคสองมิติมุมwithส่วนที่เกี่ยวกับ
พื้นผิวปกติ N () อยู่ใกล้กับเสียนที่มีส่วนเบี่ยงเบนมาตรฐานน้อยกว่า 10 ° มะเดื่อ 5a
แสดงให้เห็นถึงมุมมอง SEM ของพื้นที่เคลือบทำเครื่องหมาย (ปริมาณการปิดล้อมข้ามระหว่างทั้งสองภายใต้
แถบป้องกันโลหะ) ที่จะวิเคราะห์โดย X-ray CT ข้ามจะมีการระบุจากนั้นในการเอ็กซ์เรย์
ภาพ CT ดังแสดงในรูป 5b (สำหรับ X-ray CT หลักการเห็นโครงการในมะเดื่อ. 6) วัด
และชุดใหม่ของอนุภาคผลบังคับใช้ในปริมาณที่จะได้รับในรูป 5. พร้อมสาย
ระหว่างทั้งสองใบมีดตัด TEM ​​ถูกจัดทำขึ้นโดยใช้เทคนิค FIB หนึ่งในส่วนที่ข้าม
ปรากฏอยู่ในรูป 8a เป็น X-ray CT ส่วนในมะเดื่อ 8b เป็น SEM - และมะเดื่อ 8c เป็น TEM - ข้าม
ภาพส่วน ไม่มีการติดต่อระหว่างภาพเต็มรูปแบบเนื่องจากความลึกที่แตกต่างกันของ
การวิเคราะห์ซึ่งเป็นเรื่องใหญ่ใน CT X-ray กว่าใน TEM

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

รูปที่ 4 แสดงภาพตัดขวางกลผ่านผล
เคลือบอื่นๆด้วย SEM ที่นี่เราได้รับมุมมองด้านข้างของอนุภาคในการประมาณการ
ความหนา และยิ่งสองมิติเชิงมุมอนุภาคเอียงด้วยความเคารพ
ผิวปกติ (  ) อยู่ใกล้กับ ) กับส่วนเบี่ยงเบนมาตรฐานของน้อยกว่า 10 องศา . รูปที่ 43
ภาพจากมุมมองของเครื่องหมายเคลือบพื้นที่ ( ปริมาตรอยู่ระหว่างทั้งสองข้ามภายใต้
การป้องกันโลหะบาร์ ) เพื่อวิเคราะห์ด้วยเครื่อง X-ray CT ต่างถูกระบุแล้วใน X-ray
CT ภาพตามที่แสดงในรูปที่ 5B ( หลักการ CT เอ็กซ์เรย์ดูโครงการในรูปที่ 6 ) และวงดนตรีที่สร้างวัด
ผลของอนุภาคในปริมาณที่ให้ในรูปที่ 5 ตามเส้น
ระหว่างทั้งสองข้ามบางแบบถูกเตรียมโดยใช้เทคนิคโกหก หนึ่งของและ
จะแสดงในรูปเป็น 8A เอ็กซเรย์ CT ส่วน ในรูปที่ใส่เป็น SEM ) และในรูปเป็นแบบไขว้ - 8C –
ส่วนภาพ มีไม่เต็มความสอดคล้องระหว่างภาพเนื่องจากความลึกที่แตกต่างกันของ
วิเคราะห์ซึ่งมีมากกว่าใน X-ray CT กว่าในแบบ .